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| 多检测GPC/SEC技术在高分子表征中的应用Ⅵ.MHS方程K、α参数的测定及α对分子量的依赖性 | |
| 作者姓名： | 黄怿 卜乐炜 张德震 郝磊 苏诚伟 徐种德 |
| 作者单位： | 华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237;华东理工大学材料科学与工程学院,上海,200237 |
| 摘 要： | 采用体积排斥色谱法/示差折光指数/直角激光光散射/示差粘度三检测联用技术分别测定了窄分布和宽分布聚苯乙烯标样;得到了Mark-Houwin k-Sakurada 方程的K、α参数;计算了不同分子量范围的MHS方程指数α,建立了旋转半径 和分子量的关系式.结果表明SEC/RI/RALLS/DV可以准确和方便地获取MHS方程的K、α参数,α值具有分子量依赖性. |
| 关 键 词： | 体积排斥色谱法 多检测器 MHS方程的K、α参数 分子量依赖性 |
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