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| 高纯氧化铈中14个稀土元素杂质的光谱测定 | |
| 引用本文： | 马志诚.高纯氧化铈中14个稀土元素杂质的光谱测定[J].分析试验室,1984(6). |
| 作者姓名： | 马志诚 |
| 作者单位： | 冶金工业部包头冶金研究所 |
| 摘 要： | 高纯稀土氧化物的应用日趋广泛,由于工艺的完善,要求检出限越来越低。对稀土元素杂质总量小于0.01％的高纯稀土氧化物多采用化学光谱法测定。直接光谱和控制气氛光谱法测定氧化铈国内外已有报导。报导直流电弧粉末法测定镧、镨、钕、钐和钇下限总和为0.05％;控制气氛法测定上述五元素的下限总和为0.022％;国外以控制气氛法在GE-340光谱仪上摄谱测定14个稀土元素杂质下限总和为0.0216％。由于铈是光谱线最复杂的元素之一,加之电流较大,背景深,许多灵敏线受基体扩散影响和干扰。本工作在氧-氩气氛中以直流电弧粉末法测定14个稀土元素杂质,对分析线进行了细致的选择,对电极形状 |
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