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Messungen an μm-Proben – ein alternativer Weg zur Untersuchung intrinsischer Eigenschaften von Festkörper-Materialien am Beispiel des Halbleiters TaGeIr |
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| Authors: | Dr I Antonyshyn Dr F R Wagner Dr M Bobnar Dr O Sichevych Dr U Burkhardt Dr M Schmidt Dr M König Prof K Poeppelmeier Prof A P Mackenzie Dr E Svanidze Prof Yu Grin |
| Institution: | 1. Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe, Nöthnitzer Straße 40, 01187 Dresden, Deutschland;2. Department of Chemistry, Northwestern University, 2145 Sheridan Rd., Evanston, IL, 60208 USA |
| Abstract: | |
| Keywords: | Elektronische Struktur Festkörperstrukturen Halbleiter Kristallstrukturen |