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| SiO,SiS分子基态(X1∑+)的势能函数与光谱常数的研究 | |
| 作者姓名： | 杨士玲 任廷琦 侯圣伟 秦宝钧 |
| 作者单位： | 曲阜师范大学物理工程学院,曲阜,273165 |
| 摘 要： | 根据群论及原子分子反应静力学的有关原理,推导出SiO,SiS分子基态(X1∑+)的合理离解极限.使用密度泛函方法中的B3P LY和B3P86方法,在6-311++G(3df,2pd)和D95(3df,2pd)基组下对SiO,SiS分子的基态进行结构优化计算,使用优选的B3P86/D95(3df,2pd)对基态单点能扫描计算.然后用最小二秉法拟合Murrell-Sorbie函数,得到对应的势能函数参数及光谱常数.结果表明,采用Murrell-Sorbie函数计算所得的光谱常教与实验结果符合的很好,能精确地描述SiO,SiS分子基态的势能函数. |
| 关 键 词： | 基态 密度泛函法 Murrell-Sorbie函数 势能函数 光谱常数 |
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