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基于光学三角法的芯片凸点高度测量
引用本文:王棚,孟繁昌,张滋黎,王德钊,王珊,姚恩涛,王磊,叶瑞乾. 基于光学三角法的芯片凸点高度测量[J]. 光子学报, 2022, 51(5): 330-338. DOI: 10.3788/gzxb20225105.0512001
作者姓名:王棚  孟繁昌  张滋黎  王德钊  王珊  姚恩涛  王磊  叶瑞乾
作者单位:南京航空航天大学 自动化学院,南京 211100;中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029;长春理工大学,长春 130022,南京航空航天大学 自动化学院,南京 211100,厦门大学,福建 厦门 361101
摘    要:


关 键 词:光学三角法  显微测量  凸点高度测量  参数标定  不确定度分析

A Bump Height Measurement Method Based on Optical Triangulation
WANG Peng,MENG Fanchang,ZHANG Zili,WANG Dezhao,WANG Shan,YAO Entao,WANG Lei,YE Ruiqian. A Bump Height Measurement Method Based on Optical Triangulation[J]. Acta Photonica Sinica, 2022, 51(5): 330-338. DOI: 10.3788/gzxb20225105.0512001
Authors:WANG Peng  MENG Fanchang  ZHANG Zili  WANG Dezhao  WANG Shan  YAO Entao  WANG Lei  YE Ruiqian
Abstract:
Keywords:
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