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| 高聚物(PEO)n-CuBr2薄膜在流体静高压下的离子导电性 | |
| 作者姓名： | 苏昉 王文楼 谢斌 蒋宗驷 林枫凉 |
| 作者单位： | (1)中国科学技术大学基础物理中心; (2)中国科学技术大学基础物理中心,中国科学技术大学结构分析开放研究实验室; (3)中国科学技术大学近代化学系 |
| 基金项目： | 国家科学技术委员会基础处资助的课题. |
| 摘 要： | 用混溶蒸发法制备出高聚物（ＰＥＯ）n－ＣｕＢｒ2（ｎ＝４,８,１２,１６,２４）薄膜。并详细测量它们在０．１－３５０ＭＰａ静水压范围的复阻抗谱,以及在０．１－２４００ＭＰａ静水压范围的交流电导率。结果表明：离子电导率与压力的依赖关系可分解为四段相迭加的线性关系。根据Ｘ射线衍射物相分析,它们分别归于ＰＥＯ非晶相的压力效应,ＰＥＯ结晶相的压力效应和析出新相ＣｕＢｒ2的压力效应。最后给出克服办法——添加少量增塑剂碳酸乙烯酯可增加（ＰＥＯ）n－ＣｕＢｒ2薄膜的弹性,使压力下的离子电导率提高一至两个数量级。
关键词： |
| 关 键 词： | 聚氧化乙烯 薄膜 离子导电性 高压 |
| 收稿时间： | 1993-06-18 |
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