| La2-xSrxCuO4单晶膜的热电势与电阻率 |
| |
| 引用本文： | 余旻,杨宏顺,阮可青,李鹏程,李慧玲,柴一晟,曹烈兆.La2-xSrxCuO4单晶膜的热电势与电阻率[J].物理学报,2002,51(3):663-667. |
| |
| 作者姓名： | 余旻 杨宏顺 阮可青 李鹏程 李慧玲 柴一晟 曹烈兆 |
| |
| 作者单位： | 中国科学技术大学结构分析开放实验室,物理系,合肥230026 |
| |
| 基金项目： | 国家重点基础研究项目 (批准号 :G199906 46 )资助的课题~~ |
| |
| 摘 要： | 测量了高质量的单晶膜La2-xSrxCuO4(x=010,020,025)的电阻率和热电势.La19Sr01CuO4电阻率呈现S型行为,表明存在一个赝能隙,在赝能隙态可以用公式ρ=ρ0+βexp(-ΔT)很好地拟合.热电势的测量表明,在超导转变前样品的残余热电势值非常小,这是膜的高质量引起的,三个样品在200K以上都出现一个宽峰,对其进行了一些理论模型分析,并与电子型超导体热电势结果作了比较.
关键词：
薄膜
输运性质
热电势
|
| 关 键 词： | 薄膜 输运性质 热电势 |
| 收稿时间： | 2001-07-13 |
| 修稿时间： | 2001年7月13日 |
Study of resistivity and thermopower of La2-xSrxCuO4 thin films |
| |
| Yu Min,Yang Hong-Shun,Ruan Ke-Qing,Li Peng-Cheng,Li Hui-Ling,Cai Yi-Sheng and Cao Lie-Zhao.Study of resistivity and thermopower of La2-xSrxCuO4 thin films[J].Acta Physica Sinica,2002,51(3):663-667. |
| |
| Authors: | Yu Min Yang Hong-Shun Ruan Ke-Qing Li Peng-Cheng Li Hui-Ling Cai Yi-Sheng and Cao Lie-Zhao |
| |
| Abstract: |
Keywords： |
| |
| Keywords: | thin film transport property thermopower |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《物理学报》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《物理学报》下载免费的PDF全文 |
|
