首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

标准样品修正-X射线荧光光谱法测定碲铋矿石中碲和铋的含量
引用本文:李可及.标准样品修正-X射线荧光光谱法测定碲铋矿石中碲和铋的含量[J].理化检验(化学分册),2020,56(2):236-239.
作者姓名:李可及
作者单位:中国地质科学院 矿产综合利用研究所,成都 610041
摘    要:作为重要的"三稀"矿产资源,碲在半导体制冷、特种合金、薄膜太阳能电池等领域有着不可替代的作用1],四川石棉大水沟碲铋硫铁矿是迄今为止有报道的唯一碲原生独立矿床2]。然而,由于此类矿床的稀缺性,相关分析方法研究尚少2-3],当前对岩矿、化工样品中高含量碲的测定或采用重量法(YS/T 1227.1-2018《粗碲化学分析方法第1部分:碲量的测定重量法》)或酸溶后稀释测定,铋则采用容量法(GB/T 15926-2010《铋矿石化学分析方法铋量测定》),前处理方法难以统一,影响分析效率。

关 键 词:X射线荧光光谱法  化学分析方法  容量法  薄膜太阳能电池  重量法  特种合金  半导体制冷  标准样品

XRFS Determination of Tellurium and Bismuth in Tellurium-Bismuth Ores with Modified Program of Standard Sample
LI Keji.XRFS Determination of Tellurium and Bismuth in Tellurium-Bismuth Ores with Modified Program of Standard Sample[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2020,56(2):236-239.
Authors:LI Keji
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号