| 电感耦合等离子体—光发射光谱中抑制易电离元素干扰研究的进展 |
| |
| 引用本文： | 陶锐,高舸.电感耦合等离子体—光发射光谱中抑制易电离元素干扰研究的进展[J].理化检验(化学分册),2001,37(10):478-482. |
| |
| 作者姓名： | 陶锐 高舸 |
| |
| 作者单位： | 成都市卫生防疫站,成都,610021 |
| |
| 摘 要： | 从等离子体的强化状态、影响强化状态的分析参数及易电离元素对进样系统的影响三方面综述了电感耦合等离子体-光发射光谱分析中抑制易电离元素干扰的研究进展，引用文献46篇。
|
| 关 键 词： | 电感耦合等离子体－光发射光谱 易电离元素干扰 强化状态 进样系统 |
| 文章编号： | 1001-4020(2001)10-0478-05 |
| 修稿时间： | 2000年10月15 |
THE PROGRESS OF STUDY ON THE DEPRESSION OF INTERFERENCES OF EASILY IONIZED ELEMENTS IN ICP-OES |
| |
| TAO Rui,GAO Ge.THE PROGRESS OF STUDY ON THE DEPRESSION OF INTERFERENCES OF EASILY IONIZED ELEMENTS IN ICP-OES[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2001,37(10):478-482. |
| |
| Authors: | TAO Rui GAO Ge |
| |
| Abstract: | A review on the progress of the study on the depression of interferences of easily ionized elements in ICP OES is given in this paper, pertaining especially to the robust condition of ICP, analytical parameters affecting the robust condition and the effect of EIE on the injection sampling system (46 references are cited). |
| |
| Keywords: | ICP OES Easily ionized elements interferences Robust conditions |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
