| 用干涉条纹重迭法测量晶体双折射率差 |
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| 引用本文： | 金逢锡,孙龙,王成贵. 用干涉条纹重迭法测量晶体双折射率差[J]. 大学物理实验, 2003, 16(3): 23-26 |
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| 作者姓名： | 金逢锡 孙龙 王成贵 |
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| 作者单位： | 延边大学,延吉,133002 |
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| 摘 要： | 本介绍用干涉条纹的重叠法测量晶体双折射的过程。此方法是在D．F．Heller先生的基础上，用干涉条纹取代光机的Tallbot像，主要优点是条纹的对比度好。
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| 关 键 词： | 莫尔条纹 Tallbot像 干涉条纹 晶体 双折射率差 重迭法 |
| 文章编号： | 1007-2934(2003)03-0023-04 |
| 修稿时间： | 2002-02-28 |
BIREFRINGENCE MEASUREMENTS USING OVERLAPPING OF INTERFERENCE FRINGES |
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| Jin Feng xi Sun Long Wang Cheng gui. BIREFRINGENCE MEASUREMENTS USING OVERLAPPING OF INTERFERENCE FRINGES[J]. Physical Experiment of College, 2003, 16(3): 23-26 |
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| Authors: | Jin Feng xi Sun Long Wang Cheng gui |
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| Abstract: | In this paper we describe how measure brifringence using overlapping of interference fringes. we replaced Talbot image of a grating by interference fringes, its advantage of the Moke fringes contrast is better. |
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| Keywords: | Moire fringes Talbot image interference fringes Overlap |
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