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二极管伏安特性曲线测试电路的改进
引用本文:邵建新. 二极管伏安特性曲线测试电路的改进[J]. 物理实验, 2002, 22(3): 42-43
作者姓名:邵建新
作者单位:石河子大学师范学院物理系,新疆,石河子,832002
摘    要:指出了文献中所给出的伏安法测二级管特性曲线电路存在的问题,并给出了改进电路。

关 键 词:二极管 伏安特性 阈值电压 测试电路
文章编号:1005-4642(2002)03-0042-02
修稿时间:2001-10-23

Improvement in circuit for measuring the voltage current characteristic of diode
SHAO Jian xin. Improvement in circuit for measuring the voltage current characteristic of diode[J]. Physics Experimentation, 2002, 22(3): 42-43
Authors:SHAO Jian xin
Abstract:The shortcomings of a circuit for measuring the voltage current characteristic of diode in some documents are discussed, and the improved circuit is propounded.
Keywords:diode  voltage current characteristic  threshold voltage  test circuit
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