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| 原子力／摩擦力显微图象的分析与测量 | |
| 作者姓名： | 王吉会 |
| 作者单位： | 清华大学摩擦学国家重点实验室 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金,中国博士后科学基金,清华大学摩擦学国家重点实验室开放基金 |
| 摘 要： | 用表面粗糙度评定方法和分形几何方法,结合原子力／摩擦力显微图象的特点,编制了包括Ｒａ,Ｒｑ,Ｓｍ,Ｓ,λａ,λｑ及高度分布、承载率曲线、相关函数、功率谱和分形维数等参数的图象分析与测量的ＦＯＲＴＲＡＮ程序;用ＳＴＲ－１８０和ＳＴＲ－１０００标样作了高度标定,对国产Ｎａｔｕｒｅ磁带和进口Ｓｏｎｙ磁带的原子力／摩擦力显微图象进行了分析测量．结果表明：Ｎａｔｕｒｅ磁带的粗糙度和粒度均比Ｓｏｎｙ磁带的大;微摩擦力与表面轮廓及表面轮廓斜率之间均有良好的对应关系． |
| 关 键 词： | 原子力 摩擦力 显微镜 纳米测量 图象分析 |
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