| 压缩X因子导数光谱法测定痕量锗 |
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| 引用本文： | 吴庆生 程丽娅. 压缩X因子导数光谱法测定痕量锗[J]. 分析化学, 1995, 23(11): 1337-1340 |
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| 作者姓名： | 吴庆生 程丽娅 |
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| 作者单位： | 安徽农业大学应用化学系，安徽农业大学应用化学系，安徽省地矿测试中心，安徽省地矿测试中心，中国科技大学 合肥230036，合肥230036，合肥 |
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| 摘 要： | ![]()
本采用压缩Ｘ因子导数光谱技术实现了宽峰体系灵敏度的大幅度提高，提出了测定痕量锗的方法。在０．７２ｍｏｌ／ＬＨ２ＳＯ４和３．０ｍｏｌ／ＬＨ３ＰＯ４的混酸介质中，锗－水杨基荧光酮－ＯＰ三元显色体系的压缩Ｘ因子四阶导数光谱摩尔响应系数达１．８９×１０＾６Ｌ．ｍｏｌ＾－１．ｃｍ＾－１，灵敏度比常规光度法高１２．４倍；最低检测出限为０．０００３３ｍｇ／Ｌ，比常规光谱法低４倍；选择性也进一步提高，绝大多数离
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| 关 键 词： | 导数光谱 水杨基荧光酮 锗 |
Compressing X-Factor-Derivative Spectrophotometric Determination of Trace Germanium |
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| Wu Qingsheng,Ding Yaping. Compressing X-Factor-Derivative Spectrophotometric Determination of Trace Germanium[J]. Chinese Journal of Analytical Chemistry, 1995, 23(11): 1337-1340 |
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| Authors: | Wu Qingsheng Ding Yaping |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | Derivative spectrophotometry X-factor micro technique 2 6 7-trihydro sali-cylfluorone germanium |
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