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Recent advances in high-resolution X-ray diffractometry applied to nanostructured oxide thin films: The case of yttria stabilized zirconia epitaxially grown on sapphire
Authors:
A Boulle
R Guinebretière
O Masson
R Bachelet
F Conchon
A Dauger
Institution:
Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface, CNRS UMR 6638, ENSCI, 47-73 Avenue Albert Thomas, 87065 Limoges Cedex, France
Abstract:
Keywords:
High resolution X-ray diffraction
Microstructure
Modelling
Size and shape
Lattice disorder
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