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数字全息显微中相位像差校正技术综述
引用本文:何伟林,杨忠明,张行愚,刘兆军.数字全息显微中相位像差校正技术综述[J].应用光学,2024(2):249-261.
作者姓名:何伟林  杨忠明  张行愚  刘兆军
作者单位:山东大学信息科学与工程学院
基金项目:国家自然科学基金面上项目(62175131);
摘    要:数字全息显微技术是数字全息技术与显微技术的结合,兼备两种技术的优点,为微纳领域的定量三维测量提供了一种无损、无标记、准确和近实时的测量手段。然而,由于元件缺陷和失调以及环境扰动等原因,会在数字全息显微测量结果中额外引入相位像差。为了获得准确的定量相位测量结果,必须对像差成因和主要成分进行分析,然后补偿和校正像差。这篇综述介绍了数字全息显微成像测量中主要的像差来源和影响,基于实现的方式对现有的像差校正方法进行了综述,并展望了未来像差校正领域的发展方向,为从事数字全息检测研究的研究者提供参考。

关 键 词:数字全息  干涉测量  定量检测  相位像差  像差校正
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