| 基于LBIST的纠检错电路验证方法与实现 |
| |
| 引用本文： | 崔媛媛,李振辉,张洵颖. 基于LBIST的纠检错电路验证方法与实现[J]. 应用声学, 2014, 22(7): 2146-2147,2153 |
| |
| 作者姓名： | 崔媛媛 李振辉 张洵颖 |
| |
| 作者单位： | 西安微电子技术研究所,西安 710054;西安微电子技术研究所,西安 710054;西安微电子技术研究所,西安 710054 |
| |
| 基金项目： | 十二五核高基项目(2011AA120201)。 |
| |
| 摘 要： | ![]()
基于逻辑内建自测试的设计原理,提出了一种针对纠检错电路进行功能自测试的方法,根据纠检错电路具有固定纠检错能力的特点,无需存储海量的比较数据,也不需要设计响应特征分析器对结果数据进行压缩处理,针对具体的纠检错电路,通过增加特别设计的注错逻辑可实现任意类型的故障注入,并根据注错信息可对结果进行预测,通过与预期结果比较,可达到验证的目的;最后,以(40,2)海明编码与解码电路为例,实现了其功能自测试结构,并对所有240-1种故障进行了注入与验证;结果表明使用本文的验证方法,可实现纠检错电路的自动化随机验证。
|
| 关 键 词： | 逻辑内建自测试 纠检错电路 故障注入 单粒子翻转 线性反馈移位寄存器 |
| 收稿时间： | 2014-01-16 |
| 修稿时间： | 2014-03-21 |
Verification Methodology and Implement Ation of EDAC Circuit Based on LBIST |
| |
| Abstract: | ![]()
|
| |
| Keywords: | |
|
| 点击此处可从《应用声学》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《应用声学》下载全文 |
|
