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粉末压片-X荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量
作者姓名:王勇  刘林  刘元清  李国伟  邵国庆
作者单位:攀西钒钛检验检测院,攀西钒钛检验检测院,攀西钒钛检验检测院,攀西钒钛检验检测院,攀西钒钛检验检测院
基金项目:四川省市场监督管理局科研项目(SCSJS2023008)
摘    要:硫是过磷酸钙中重要营养指标之一,为准确快速测定过磷酸钙中硫的含量,试验采用粉末压片-X荧光光谱法,将过磷酸钙试样充分干燥后研磨至粒度小于74 μm,采用硼酸镶边,在压力18 Mpa条件下保压30 s,制成样片。通过在过磷酸钙样品中添加不同质量的纯物质硫酸钙(质量分数范围1.52 %~17.21 %),经过专用混匀设备混合均匀后,与试样压片相同条件下压制标准样片,作为过磷酸钙中硫的标准样品,建立硫标准曲线,曲线线性相关系数R2为0.9995,采用经验系数法校正干扰,建立了粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量的方法, 方法检出限为0.002 %。对3个不同硫含量的过磷酸钙样品采用本实验方法重复测量7次,RSD在1.4 %~3.1 %,方法精密度性好,同时用高温燃烧红外光谱法和电感耦合等离子发射光谱法对比,三者测量结果相对极差小于2.0 %,测量结果无显著性差异。此方法不需要对样品进行熔融或溶解,样品制备简单,数据准确度和稳定性好,分析效率高,适合大批量样品中硫的测定。

关 键 词:X射线荧光光谱法(XRF)  过磷酸钙    基体效应
收稿时间:2023-08-31
修稿时间:2024-03-18
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