| 基于OH自由基A2Σ + →X2Πr 电子带系发射光谱的温度测量技术 |
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| 引用本文： | 彭志敏,丁艳军,杨乾锁,姜宗林.基于OH自由基A2Σ + →X2Πr 电子带系发射光谱的温度测量技术[J].物理学报,2011,60(5):53302-053302. |
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| 作者姓名： | 彭志敏 丁艳军 杨乾锁 姜宗林 |
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| 作者单位： | (1)清华大学热能系,电力系统与发电设备控制与仿真国家重点实验室,北京 100084; (2)中国科学院力学研究所,高温气体动力学重点实验室,北京 100190 |
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| 摘 要： | 本文基于OH自由基所固有的分子结构特征,通过分子光谱理论系统地分析和计算了OH自由基A2Σ + →X2Πr 电子带系发射光谱的谱线跃迁频率、能级分布以及爱因斯坦自发发射跃迁概率等重要参数.同时结合实际的光谱实验,分析了谱线的自然展宽、碰撞展宽、多普勒展宽以及仪器展宽等各种展宽因素对谱线线型的影响,从理论上计算了任意转动温度、振动温度以及谱线展宽条件下OH自由基A2Σ 关键词：
发射光谱
转动温度
振动温度
自发发射爱因斯坦跃迁概率
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| 关 键 词： | 发射光谱 转动温度 振动温度 自发发射爱因斯坦跃迁概率 |
| 收稿时间： | 2010-06-19 |
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