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| X射线光谱分析的现状与趋势--参加国际NAMALS8、IRRMA6、TXRF 2005会议有感 | |
| 作者姓名： | 罗立强 |
| 作者单位： | 国家地质实验测试中心,北京,100037 |
| 基金项目： | 致谢：受《光谱学与光谱分析》主编黄本立院士推荐和委托,笔者有幸参加了国际2005TXRF会议,并在黄本立院上和孟广政社长的支持下撰写此文.特此致谢! |
| 摘 要： | 1会议概况 2005年,有三个与X射线光谱分析紧密相关的国际会议召开,他们分别是国际NAMALS 8、IRRMA 6和TXRF 2005会议.笔者有幸参加了这三个会议,从中也了解到目前国际X射线光谱分析领域的研究现状和发展趋势. |
| 关 键 词： | X射线光谱分析 会议概况 国际会议 现状 发展趋势 |
| 收稿时间： | 2005-02-20 |
| 修稿时间： | 2005-02-20 |
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