| Nb二维原子薄片中的Jahn-Teller效应 |
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| 作者姓名： | 陈鲁倬 王晓春 文玉华 朱梓忠 |
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| 作者单位： | (1)厦门大学物理系,厦门大学理论物理与天体物理研究所,厦门 361005; (2)厦门大学物理系,厦门大学理论物理与天体物理研究所,厦门 361005;清华大学物理系,北京 100084 |
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| 摘 要： | 使用基于密度泛函理论的第一性原理平面波赝势法,研究了Nb二维单层原子薄片的结构稳定性和电子结构性质.对其所有的二维晶格结构的计算表明,由于Jahn-Teller效应,对称性较高的正方和六角晶格都是不稳定的二维结构.而稳定的二维结构是由对称性较高的六角晶格畸变后形成的对称性较差的斜方和中心长方结构.Nb单层原子薄片不能形成长方晶格结构.通过计算电子结构和Jahn-Teller效应,进一步讨论了这些结构的相对稳定性以及各二维晶格结构的电子能带和态密度等性质.
关键词：
Nb原子薄片
Jahn-Teller效应
电子结构
从头计算
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| 关 键 词： | Nb原子薄片 Jahn-Teller效应 电子结构 从头计算 |
| 文章编号： | 1000-3290/2007/56(05)/2920-06 |
| 收稿时间： | 2006-07-28 |
| 修稿时间： | 2006-07-28 |
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