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1.
单模光纤中弯曲损耗的测试与分析   总被引:16,自引:9,他引:7       下载免费PDF全文
对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径(1~8 mm)和波长(1530~1565 nm)变化的实验进行了测试,结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波长呈现振荡.理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在包层以及涂覆层中传播的Whispering-gallery模式之间的耦合,引起了弯曲损耗的振荡,理论分析结果和实验结果基本一致.  相似文献
2.
波导弯曲半径与弯曲损耗的关系   总被引:8,自引:4,他引:4       下载免费PDF全文
介绍了分析波导弯曲损耗的保形变换法和归一化方法以及由此得到的波导弯曲半径与弯曲损耗的关系式.建立了弯曲损耗经验公式,由该公式得出了四种常用材料的波导弯曲半径与弯曲损耗的曲线,并将已报道的相应材料制作的AWG中的最小弯曲半径及其对应的损耗实验数据与这些曲线上的相应数值进行了比较,结果表明,弯曲损耗经验公式在确定AWG中的最小弯曲半径时,有一定的参考价值.  相似文献
3.
ZnO外延膜与蓝宝石衬底的取向偏差及其弯曲变形   总被引:1,自引:1,他引:0  
采用常压MOCVD方法在Al2O3(00.1)衬底上生长出了高质量ZnO单晶薄膜。由ZnO(00.2)面和Al2O3(00.6)面及ZnO(10.2)面和Al2O3(11.6)面X射线双晶(w/2θ衍射曲线的相对峰位,得到ZnO外延膜的晶格常数及外延层和衬底间的取向差异角。结果表明外延层和衬底在应力作用下产生了取向差和晶格畸变,并且取向倾斜方向与衬底的切割倾角方向一致;高温直接生长的样品的取向差比有低温缓冲层样品更大,晶格畸变也更严重。高温直接生长的样品弯曲半径小而应力更大;实验测量的应力值和理论计算的热应力值之间存在差异,原因主要是晶格失配应力的存在。有缓冲层的样品由于能更好地弛豫晶格失配引入的应力,热应力所占整个残余应力的比例相对更大。  相似文献
4.
单模光纤弯曲损耗的测量与分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
从理论和实验两方面讨论了弯曲半径及工作波长对单模光纤弯曲损耗的影响,测量了1310nm和1550nm波长光作用下,弯曲损耗随弯曲半径的变化关系。结果表明:随着弯曲半径的增大,弯曲损耗系数呈下降趋势,并且伴有振荡现象出现;而且,在弯曲半径较大时,弯曲损耗变化平缓,1550nm波长较1310nm波长明显更易产生弯曲损耗,而小弯曲半径对应的弯曲损耗振荡剧烈,此时两种光波长对弯曲损耗的敏感程度交替变大。  相似文献
5.
AWG结构的优化设计   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
通过分析AWG中心波导倾角特性,优化焦点间距,提出了两个结构约束方程,得出了结构紧凑的AWG设计方法.根据这一方法,可以由一定损耗条件下的最小弯曲半径和接口参数—接口处输入/输出波导间距和最短直波导长度,优化并完全确定其它结构参数,从而得到最小面积的AWG波导结构.最后给出了优化设计实例.  相似文献
6.
马春生  王菲  崔占臣  刘式墉 《光子学报》2002,31(Z2):173-178
本文对聚合物阵列波导光栅(AWG)波分复用器中波导的弯曲损耗进行了理论分析。为了使AWG器件中单模传输时波导的弯曲损耗尽量地减小,结合计算实例对波导的弯曲半径、弯曲角度和弯曲弧长等几何参量的选择进行了适当的讨论。  相似文献
7.
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