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1.
从单站光测图像确定空间目标三维姿态   总被引:25,自引:5,他引:20  
基于在物距与焦距之比远大于 1时摄像系统成像模型可用平行投影近似的事实 ,充分利用空间目标的几何先验知识 ,提出了一种从单站经纬仪等光测设备获得的图像确定火箭等空间目标三维姿态的方法 ,避免了多站图像的立体匹配。仿真实验和实际应用结果表明 :方法精度高 ,结果稳定  相似文献
2.
用衍射光栅和CCD测量透明材料折射率   总被引:16,自引:5,他引:11  
介绍了一种基于衍射光栅干涉和CCD图像测量的测量透明材料折射率的方法。这种方法使用的仪器少,操作简单,配合CCD与图像处理的运用,尝试的两种测量方案都使精度能够达到10^-4。两种测量方案对同一玻璃基片的测量结果基本吻合,而第二种测量方案的测量精度要优于第一种,这是因为就我们目前的实验条件而言,CCD判别条纹移动的精度对折射率测量的影响要小于角度测量精度对之的影响。该方法还可以测量各向同性透明薄膜样品的折射率,为探索新型有机薄膜的折射率及其有关特性提供便利的手段。讨论了测量的基本原理和样品的测量结果,并对实验方法误差进行了分析。  相似文献
3.
动态液面面形测量   总被引:16,自引:4,他引:12  
张启灿  苏显渝 《光学学报》2001,21(12):506-1508
将傅里叶变换轮廓术(FTP)运用到地动态液体面形测量,采用CCD快速获取由龙基(Ronchi)光谱投影到处于动态变化过程的液体表面上的一系列变形条纹,经过傅里叶变换,频谱滤波,逆傅里叶变换,三维相位展开等处理后得到的重建的一系列液面面形,能再现动态液面的变化过程,也能获取液体旋涡的一些特征参数,为流体力学相关研究提供了一种新的方法。  相似文献
4.
利用CCD图像的灰度梯度实现物体三维测量   总被引:15,自引:5,他引:10  
刘章文  古天祥 《光学学报》2003,23(11):384-1388
提出了一种利用CCD单目图像的灰度梯度测量三维表面的方法——灰度梯度法。巧妙地运用中间变量,找到灰度梯度与聚焦像表面梯度之间的映射关系,将灰度约束方程转变为可求解的一元方程,从而解出聚焦像表面的深度信息。利用聚焦像表面与物体间的几何光学的约束以及它们之间的空间共轭对称关系,将该三维表面变换到实际三维尺寸,以达到三维测量的目的。最后对影响该测量系统的误差进行了分析。该方法克服了传统的光切法因过多冗余图像而使测量效率低的缺点,且该方法约束条件容易实现。对球体和柱面体的试验误差率分别为6.0%和4.85%,显示出该方法在一定范围内是有效的。  相似文献
5.
高精度数字图像相关测量系统及其技术研究   总被引:13,自引:7,他引:6  
研制双CCD长距显微数字图像相关测量系统,它融合光电子、数字图像相关方法和散斑技术于一体,具有非接触式、高精度、宽量程、准实时、测试方法简便等优点,它可用于材料力学性能(特别是柔性高分子材料力学性能)测量、低膨胀系数新型材料线胀系数等的测量。若将其用于应变测量,灵敏度优于1με,而传统数字图像相关方法测量应变的理论灵敏度为20με。利用列阵光学元件解决了0.05 mm高衬比度微小标记的方便设置;提出消除了数字图像灰度噪声的时间平均法,使相关测量精度稳定地达到0.01 pixel。还给出金属材料拉应变的测量结果,实验结果与经典理论值相当接近。此外,还阐述数字图像相关测量技术是一种超光学系统衍射极限分辨力的测量技术。  相似文献
6.
双目立体视觉测距系统误差模型的研究   总被引:13,自引:0,他引:13  
针对双目立体视觉测距中产生误差的问题,分析了系统中的各个参量,并建立了双目立体视觉测距系统的误差模型。得出引起测量系统误差最大的两个参量是CCD摄像头的对准程度和测量的距离;在视场中心的距离测量精度低,边缘测量精度高,在视场中心的水平和纵向的测量精度却远高于在边缘的测量精度两个结论。基于本文建立的误差模型可以指导适用于具体应用场合的双目立体视觉测距系统的设计。  相似文献
7.
1/4波片延迟量的相位调制椭偏测量法   总被引:12,自引:7,他引:5  
利用椭偏测量术中的相位调制椭偏测量原理测量了1/4波片的延迟量。该方法预先对测量光束的偏振态进行调制,以生成随时间变化的光强信号,通过对信号中的谐变成分进行分析而获得待测波片的延迟量。测量了四个波片,其中三个波片的延迟量已经用电光调制法精确测量过,经对比测量的结果符合较好。观察到了和理论相符的云母波片延迟量的振荡现象。实验结果说明这种方法是一种有实际意义的方法。  相似文献
8.
彭堃墀 《物理》2001,30(5):300-305
光场压缩态是一种非经典光场,它在超标准量子极限(SQL)的高精度光学测量、超低噪声光通信及量限通信等有着广泛应用前景,是物理学和信息科学交叉前沿研究课题,文章介绍了光场压缩态的产生及它在亚散粒噪声光学测量(sub-shot-noise=limit opical measurement)和量子信息中的重要应用。  相似文献
9.
CCD噪声标定及其在边缘定位中的应用   总被引:11,自引:7,他引:4  
成像过程中的CCD噪声将给图像测量结果带来误差,因此能否有效地抑制这些噪声是提高测量精度的关键。分析了CCD暗电流噪声和随机噪声的特性,并针对各自特性提出了相应的噪声标定技术以及抑制方法。结合精密图像测量任务,分别研究了暗电流噪声和随机噪声对一维边缘定位、结构光相移法相位提取的影响。通过仿真和实验,比较了噪声抑制前后的测量结果,结果表明,噪声抑制后边缘定位精度有很大的提高,证实了该CCD噪声标定技术和抑制方法的有效性和必要性。  相似文献
10.
基于单幅测量图像的三维缺陷检测技术   总被引:11,自引:0,他引:11  
为了对缺陷进行更加全面的判断,设计了一种新型三维缺陷检测方法,只需要根据单幅实时测量的工件图像,就可获得0°~180°范围内工件形貌的三维数据,进而对缺陷的平面及深度尺寸进行全面判断。其核心技术是根据单幅测量图像中留下的三维线索—灰度信息,进行亮度分析和转换,利用倾角和偏角计算物体深度信息。在工业现场磁性材料缺陷检测中,该方法在X和Y方向的分辨力达到0.1 mm,Z方向的分辨力达到0.007 mm。实验证明所使用的三维缺陷检测方法,工作方式简单,硬件成本低,处理速度快,精度高,适宜在工业现场应用。  相似文献
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