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1.
 在北京同步辐射源上建立了X光CCD(Charge-Coupled Device)量子效率实验标定方法,获得了150eV至1500eV能区范围多个X光能点的量子效率实验结果,发展了X光CCD量子效率简化计算模型,并对X光CCD表面油沾污对量子效率的影响进行了实验研究和修正。结果表明经过油沾污修正后的简化理论模型计算结果与实验标定结果符合较好。  相似文献   
2.
透射光栅衍射效率研究   总被引:13,自引:5,他引:8       下载免费PDF全文
透射光栅广泛应用于 X光能谱测量 ,为获得定量的 X光能谱 ,首先在北京同步辐射源上对透射光栅的衍射效率在多个入射 X光能量点进行了实验标定 ,获得了透射光栅衍射效率的实验结果。为模拟透射光栅衍射效率实验标定结果 ,发展了一个新的透射光栅衍射效率计算模型 ,该模型不同于国外已发展的矩形栅线模型和梯形栅线截面模型 ,而是假设透射光栅栅线具有准梯形截面。模型计算结果与实验标定结果符合很好。  相似文献   
3.
双示踪元素X射线能谱诊断激光等离子体电子温度   总被引:5,自引:0,他引:5       下载免费PDF全文
在“星光Ⅱ”激光装置上对Mg/Al混合材料平面靶和Mg/Al示踪层金盘靶进行三倍频激光打靶实验,用平面晶体谱仪测量靶材料发射的X射线能谱,获取了示踪离子谱线实验数据.采用多组态Dirac-Fock方法计算所需原子参数,并在局域热动平衡条件下建立了双示踪离子谱线强度比随电子温度变化关系.在此基础上由双示踪元素等电子谱线法确定了Mg/Al混合材料平面靶及金盘靶激光等离子体的电子温度 关键词: 电子温度 激光等离子体 X射线能谱  相似文献   
4.
软X射线能谱定量测量技术研究   总被引:6,自引:0,他引:6       下载免费PDF全文
采用每毫米1000线的自支撑透射光栅配上背照射软X射线CCD(charge coupled device)组成了透射光栅谱仪,利用北京同步辐射装置(BSRF)3W1B光束线软X射线实验站上X射线源分别对透射光栅的衍射效率和软X射线CCD的响应灵敏度进行了准确的实验标定,获得了150eV到1500eV能区的绝对衍射效率和响应灵敏度的实验结果;同时在国内外研究工作的基础上,发展了自己的透射光栅衍射效率理论计算模型和X射线CCD响应灵敏度计算模型,开展了相应的理论计算和实验标定结果比对工作,理论和实验符合较好,  相似文献   
5.
2003年“神光”Ⅱ内爆实验中,获得了靶丸燃料区空间分辨的Ar线谱—由此得到Heα等谱线发射区的尺寸,分别由线强比和谱线Stark宽推出了燃料区的电子温度和密度。  相似文献   
6.
建立以二极管泵浦的Nd:YAG连续固体激光器为基础的微结构加工平台。激光器谐振腔输出基横模,输出波长1064nm,采用调Q技术压缩脉宽,激光器输出峰值功率大于10w,可选择连续及脉冲工作方式。  相似文献   
7.
中低Z材料辐射烧蚀实验研究   总被引:3,自引:3,他引:0  
 在星光Ⅱ激光装置上,利用波长为0.35μm的激光注入柱腔金箔靶产生的金箔后向X光作源,烧蚀中低Z样品材料,通过空间分辨测量靶源区和样品自发辐射X光的时间过程获得了中Z铝材料的辐射烧穿时间结果;在北京同步辐射源上对透射光栅进行了实验标定。  相似文献   
8.
在2004年的“神光”-Ⅱ内爆实验中,设计了球壳内界面涂S、且氘燃料区中掺Ar的辐射驱动内爆靶球(图1),实验排布如图2所示:针孔阵列一晶体谱仪(PA--CS)置于正西水平方向;正东水平方向放置时间分辨的晶体谱仪(扫描晶体谱仪S—CS),测量靶球内爆中心和S线谱发射的时间过程;正南水平方向放置一台针孔阵列—X射线分幅相机(XFC),监测靶丸内爆压缩发光图像;闪烁体探测器在靶室外东南方向监测内爆中子产额:软X光能谱仪在水平东偏北方向监测腔内辐射温度。由数千个针孔组成的针孔阵列和平面晶体组成的二维单色成像系统的测量原理如图3所示。  相似文献   
9.
大口径元件反射率的镜面扫描精密测量系统   总被引:2,自引:2,他引:2       下载免费PDF全文
 为了测量高功率激光传输系统中大口径高反射率元件,研制了一种镜面扫描的精密测量系统。介绍了该系统的结构及其工作原理,分析了影响系统测量精度的因素,理论上估算的测量精度为2×10-5。在直腔下对该系统的性能进行了实验测试,分析表明,系统的测量不确定度优于2.052 28×10-5,最大测量误差为3.554 04×10-5,与理论预计结果吻合较好。对大口径元件进行的多次实验扫描测试,结果显示,镀膜加工误差导致反射率分布是关于镜面中心呈旋转对称。该系统的使用大大简化了元件表面反射率分布的测量。  相似文献   
10.
辐射烧蚀区电子温度研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
此文叙述了采用晶体谱仪测量辐射烧蚀区电子温度的方法.在"星光Ⅱ”激光装置上,以波长为0.35μm,能量~70J,脉宽~700ps的强激光注入辐射烧蚀靶,实验首次测到了辐射烧蚀样品自发射谱,配合理论计算,给出了碳氢样品电子温度29eV.另外用空间分辨晶体谱仪研究了发泡铝靶电子温度空间分布;用双示踪元素等电子谱线法研究了Formvar(CHO)膜平面靶的电子温度.  相似文献   
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