排序方式: 共有4条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
用消光式椭圆偏振仪测薄膜的椭圆偏振光谱 总被引:2,自引:0,他引:2
我们提出一种简便宜行的测试方法,即利用固定波长下的消光椭圆偏振仪中补偿器材料的色散曲 线计算对不同波长的光产生的位相差,实现可变波长的消光椭圆偏振测量.以Si-SiO2膜为例测椭圆 偏振光谱和理论计算,两者结果一致。 相似文献
2.
3.
4.
文章分析了波长调制反射谱的实质是静态介电函数对能量的一级微商谱.将MOCVD方法生长的GaInP以及掺Si两个样品,用椭偏光谱法测量得到可见光区的介电函数谱,并求其一级微商谱.将用于分析电反射谱的三点法推广用来分析介电函数的一级微商谱,得到波长调制反射谱的实验结果,并与介电函数谱的结果加以比较,使灵敏度和分辨率有很大提高. 相似文献
1