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在具有不同氧化层厚度的p型硅基片上修饰2层磺化酞菁铜分子膜.利用时间分辨表面光电压谱技术,对该膜系的界面电荷转移机制的光电开关特性进行了研究。结果表明,用时间分辨表面光电压谱技术研究界面电荷转移过程具有明显优越性. 相似文献
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