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1.
加速器中子活化实验是核专业本科实验教学中的重要实验之一.本文在利用14 MeV快中子辐照238U诱发裂变截面实验过程中引导学生挖掘实验数据,测量了裂变核素(89Rb)的重要核参数—半衰期.本工作运用低本底HPGe-γ谱仪测定裂变产物的一系列γ射线能谱,解谱得到89Rb的特征γ峰计数,从而确定89Rb的半衰期.数据分析中应用89Rb核素两条γ射线分别独立得到89 Rb的半衰期为15.30±0.09 min和15.25±0.07 min.测量结果在与文献数据符合较好的基础上,提高了测量精度. 相似文献
3.
4.
碲锰镉(CdMnTe)作为性能优异的室温核辐射探测器材料,可用于环境监测和工业无损检测领域。本文中采用Te溶剂Bridgman法生长In掺杂Cd0.9Mn0.1Te晶体,制备成10 mm×10 mm×2 mm大小的室温单平面探测器,研究了该探测器对241Am@59.5 keV γ射线源的能谱响应。通过表征红外透过率、电阻率以及探测器能谱响应等参数,综合评定了探测器用CdMnTe晶体的质量、电学和探测器性能。结果表明,晶片的红外透过率均在55%以上,最好可达到60%。采用湿法钝化,100 V偏压下的漏电流由钝化前的9.48 nA降为钝化后的7.90 nA,钝化后的电阻率为2.832×1010 Ω·cm。在-400 V反向偏压下,CdMnTe探测器对241Am@59.5 keV γ射线源的能量分辨率在钝化前后分别为13.53%和12.51%,钝化后的电子迁移率寿命积为1.049×10-3 cm2/V。研究了探测器的能量分辨率随电压的变化特性,当偏压≤400 V时,探测器的能量分辨率主要由载流子的收集效率决定,而当偏压>400 V时,能量分辨率由漏电流决定。本文研究结果表明,Te溶剂Bridgman法生长的CdMnTe晶体质量较好,电阻率和电子迁移率寿命积满足探测器制备需求。 相似文献
5.
报道了一种单脉冲输出时间精确可控的单纵模Nd:YAG激光器.该激光器谐振腔采用自滤波非稳腔结构得到TEM_(00)模,利用磷酸钛氧铷电光晶体作为相位调制器来扫描腔长,通过种子注入的扫描-保持-触发技术锁定腔模,得到稳定的单脉冲输出时间精确可控的单纵模输出.该1064 nm激光器输出脉冲能量为50 mJ,脉冲建立时间48 ns,单脉冲输出时间抖动小于1%.用波长计WS7测量脉冲的波长和线宽,测量结果显示,波长计干涉仪干涉条纹清晰光滑,是典型的多光束干涉波形,显示波长为1064.40416 nm,线宽0.5 pm (波长计的极限分辨率).同时以0.1 Hz的工作频率连续记录了1700发脉冲的波长,波长抖动小于0.1 pm (峰峰值). 相似文献
6.
Abel群的一些分解定理的推广(I) 总被引:2,自引:2,他引:0
这项研究的目的是要把Abel群(有限或无限)的诸多分解定理尽可能地推广到主理想整环的模上,得到这类模上的分解定理,随后再把所得定理应用到向量空间(有限维或无限维)及其线性变换,得到向量空间的分解定理.本文是系列文章的第一篇,主要目的是建立起支撑整个研究的最基本概念,例如纯子模、有界模、局部循环模、具有minimax条件的模等.本文主要内容有:
(1)确定了主理想整环上可除模、有界模、局部循环模的结构;
(2)给出了主理想整环上拟循环模的生成性质,这类模在以后的研究里起着非常重要的作用;
(3)描述了主理想整环上满足极小条件,minimax条件的模的结构;
(4)给出了两个不同构的Z[i]-模,它们作为Abel群是同构的. 相似文献
7.
采用Tb4O7作为扩散源对N50磁体进行晶界扩散处理,平行于取向的面扩散后磁体的Hcj增加了8.83 kOe,达到22.74 kOe,垂直于取向的面扩散后磁体的Hcj增加了8.86 kOe,达到22.77 kOe。通过对磁体的不同位置的Hcj进行分析,在距表层500~750μm处获得最大Hcj为26.77kOe。对磁体的Tb,Nd和O元素的分布进行分析,发现在表层有较高的O富集,进一步分析发现磁体中的O含量对磁体的微观结构,磁体性能和热稳定性产生了影响,得出控制磁体的O含量是取得晶界扩散良好效果的关键因素。 相似文献
8.
9.
纳米二氧化硅水溶胶成膜特性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
研究了纳米SiO2水溶胶的固液二相流成膜特性.结果表明,水溶胶中的Si02固体颗粒的粒径及质量分数对粘度的影响较小,对成膜能力和承载能力的影响较大;在薄膜润滑阶段,固体颗粒的粒径和质量分数对润滑状态的稳定性具有一定的影响,随着速度的增加,液体膜厚度逐渐增大,固体颗粒对液体润滑膜稳定性及性能的影响逐渐减弱;在弹流润滑阶段,固体颗粒的影响很小。 相似文献
10.
本文对InGaN/GaN多量子阱结构发光二极管开启后的电流噪声进行了测试, 结合低频电流噪声的特点和载流子之间的复合机理, 研究了低频电流噪声功率谱密度与发光二极管发光转变机理之间的关系. 结论表明, 当电流从0.1 mA到10 mA逐渐增大的过程中, InGaN/GaN发光二极管的电流噪声行为从产生-复合噪声逐渐接近于低频1/f噪声, 载流子的复合机理从非辐射复合过渡为电子与空穴之间载流子数的辐射复合, 并具有标准1/f噪声的趋势, 此时多量子阱中的电子和空穴之间的复合趋向于稳定. 本文的结论提供了一种表征InGaN/GaN多量子阱发光二极管发光机理转变的有效方法, 为进一步研究发光二极管中载流子的复合机理、优化和设计发光二极管、提高其发光量子效率提供理论依据. 相似文献