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1.
本文用统计光学方法对双参考光全息——散斑干涉术进行了详尽的理论分析,给出了全息和散斑干涉场区域平均光强分布与光学系统主要参数及三维变形场各分量之间关系的解析表达式,进而讨论了离面位移和面内位移测量的上、下限,最后还给出了有关的实验结果。  相似文献   
2.
光子晶体特殊的色散特性能导致负折射现象发生。用波束位移法对二维光子晶体平板的负折射现象进行理论计算和实验测量,得到了入射光经平板光子晶体折射后的二维光场分布。测量结果表明,横电(TE)光在光子晶体中发生负折射,出射光沿出射面产生了反方向的横向位移,由此计算出来的负折射率约为-0.44,而横磁(TM)光没有发生负折射。实验结果与仿真结果吻合较好。  相似文献   
3.
本文从哈特曼-夏克波前测量原理出发,提出了基于波前测量的透镜焦距测量方法|得到了使用这一方法测量焦距的计算公式.使用633 nm和780 nm两种波长的半导体准直激光器作为光源,测量了三片双合透镜的焦距,结果表明,633 nm光源下测量得到的波长与透镜的设计焦距值相吻合,能够正确测量透镜焦距|而780 nm光源的测量结果显示出较大的相对测量偏差,但可用于评估透镜的剩余球差、色差以及制造公差.  相似文献   
4.
生物芯片图像网格化是对由生物芯片扫描得到的荧光成像中的信号(Foreground)和背景(Background)进行划分,以便提取各点的吸光度值、面积和吸光度比等荧光点的数据。网格化的准确与否决定了数据提取的正确性。提出了一种运用顺序形态变换理论实现生物芯片荧光图像网格化的方法,通过对百分位值在0~1之间的顺序形态进行变换,可实现像素灰度的极小值、中间值等多刻度值的灰度取值运算。理论分析表明,该算法能够识别信号与背景的边界,可去除噪声等非边界信息,能判断信号区域,可确定荧光点的边界和范围,可实现荧光点阵图像的网格化。试验结果表明,该算法对不同信噪比的荧光图像来说有很强的适应性,可用于高密度生物芯片图像的处理。  相似文献   
5.
李湘宁  陈家璧  邹林儿 《大学物理》2003,22(6):29-30,F003
介绍了一种光学组合系统,通过构造光学系统虚拟的视场光阑实现人眼屈光度测量,它是光学系统光阑应用的生动实例.  相似文献   
6.
哈德曼-夏克传感器(Hartmann-Shack Sensor,HSS)是一种测量波前像差的仪器。提出了一种利用4F系统实现光瞳衔接,与哈德曼-夏克传感器相结合测量眼镜片的光焦度和像差分布情况的方法。阐述了该系统的工作原理,研究了哈德曼-夏克传感器所得到的检测值与实际被测光学系统的光焦度与像差之间的转换关系。考虑到人眼实际观察不同方向物体时视轴是在不断变化的,采用多光轴测量眼镜片的方法。实现了利用哈德曼-夏克传感器对于眼镜片的光焦度和像差进行精密测量。  相似文献   
7.
提高专业基础课程学习的兴趣   总被引:1,自引:0,他引:1  
课程教学质量直接影响学生学习的积极性,专业基础课程质量直接影响专门人才的培养。从"激光原理及应用"专业基础课程的教学过程如何激发学生的学习兴趣出发提出了一些想法,以打造顺应时代发展的光电子技术人才。  相似文献   
8.
培养兴趣,引导创新——《信息光学》理论教学改革实践   总被引:2,自引:0,他引:2  
重点研究了针对《信息光学》理论性强的课程和学生在学习过程中兴趣下降以及一知半解等问题,着重从提高学生理论学习兴趣,引导学生创新为出发点,通过改进PPT课件,吸引学生注意,采用深入浅出、举一反三、师生互动、启发式教学方法、理论与实际相结合、教学科研相结合等多种方法和手段,帮助学生建立正确的物理概念,促进学生对数学公式所代表的物理意义的理解,达到改善理论教学效果的目的。同时结合创新性实验建设,培养创新型和复合型人才。  相似文献   
9.
Howland像差仪是一种由正负柱透镜中间夹着格栅组成的系统。它通过检出人眼透过像差仪所视的变形格栅图中的偏移变形量,来获得对应的人眼的波像差信息。建立了该系统的等效光学成像模型,从格栅所成阴影像的概念出发,得到其成像公式,给出人眼波像差计算方法。  相似文献   
10.
探头对共聚焦内窥成像系统层析能力的影响   总被引:2,自引:1,他引:1  
刘勇  陈家璧 《光子学报》2008,37(6):1152-1155
根据透镜成像规律和单模光纤的传输特性,获得基于单模光纤的共聚焦内窥成像系统轴向光强分布,发现系统的成像过程由于单模光纤的介入呈现非线性,照明光路系统和接收光路系统仅影响系统接收信号的总强度,系统层析能力取决于探头和单模光纤性能.通过建立的共聚焦内窥成像实验装置,测量出在三组不同物镜组合情况下系统的归一化轴向光强分布.结果显示已建立的共聚焦内窥成像系统的理论模型是正确的,扫描光点的定位精度对系统层析能力影响很大,系统设计应该综合考虑光学、机械和电子方面的性能要求.  相似文献   
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