H_2及H~ 对C_xH_(1-x)薄膜表面状态的影响

系统研究了 H2 流量和 H 原位处理 Cx H1-x薄膜的时间对 Cx H1-x薄膜的稳定时间、表面悬挂键密度和表面电子局域化程度的影响 ,表明 Cx H1-x薄膜的长时间 H 原位处理是减小 Cx H1-x薄膜表面悬挂键密度的有效途径。     

Cu_xC_(60)薄膜紫外-可见吸收光谱研究

近来,有关 C60的研究主要集中在有关晶格动力学 [1]、电子结构 [2～ 4]和 MxC60（ M代表碱金属或碱土金属）的超导电性研究 [5].但由于 MxC60在大气中不能稳定存在,制约了 MxC60的深入研究和实际应用 .最近, Masterov等人报导了他们对 Cu/C60的超导特性研究 [6～ 7],认为其转变温度 Tc在 80～ 120 K之间,这个转变温度比现有的 MxC60的转变温度（ Tc～ 40 K）要高得多 .但有关更进一步的研究未见报导 .因此,我们拟对 CuxC60体系作较为详尽的研究,这对于进一步研究其超导机理是有必要的 .本工作是在成功地制备了 CuxC60薄膜的…     

多辊轧机冷轧技术在靶材料制备中的应用

 叙述了多辊轧机轧制金属薄膜原理，以Ti膜制备为例，借助多辊轧机冷轧技术进行1.5 μm厚钛薄带的制备工艺研究。对薄膜的特性测试结果表明：工作辊的表面粗糙度对于轧制薄膜的表面粗糙度的影响很大，降低工作辊表面的粗糙度可以得到粗糙度为25.2 nm的金属薄膜。     

用理学3064X荧光仪分析碳

在理学３０６４Ｘ荧光仪上采用十八烷基马来酸（ＯＨＭ）晶体作为色散单元，通过改造电路，调整晶体倾角，获得对碳分析的良好线性，在流气正比计数器（ＦＰＣ）窗膜分别为５μｍ和０．６μｍ条件下，碳元素的峰背比分别达到３８．９１和５４．０４。作者分析了白口铸铁和碳化硅中的碳，结果表明在理学３０６４Ｘ荧光仪上定量分析碳是可行了，具有快速、简便、准确、多元素同时分析的特点，可用于日常分析     

基于LabVIEW的某型舵机综合性能测试系统

摘要: 某型新研舵机性能需要严格而有效的测试;利用LabVIEW平台,开发了一种舵机综合性能测试系统;整个系统基于PXI总线进行构建,以保证系统测试的精确性和可靠性,能够产生对舵机的控制信号,同时实现数据的采集和存储,波形的实时显示,测试数据的分析、保存和打印等功能;该系统已应用在某型舵机性能测试中;试验结果表明,该系统操作方便,运行稳定,测试结果精确可靠。     

用理学3064X荧光仪分析碳

在理学３０６４Ｘ荧光仪上采用十八烷基马来酸晶体作为色散单元，通过改造电路，调整晶体倾角，获得对碳分析的良好线性，在流气正比计数器窗膜分别为５μｍ和０．６μｍ条件下，碳元素的峰背比分别下达到３８．１９和５４．０４。     

ARL9800 X射线光谱仪测定烧结矿中氧化亚铁

介绍了用瑞士ARL公司生产的ARL9800X射线光谱仪中配置的X射线衍射（XRD）通道测定烧结矿中氧化亚铁含量，该方法简便，快速，准确，当浓度为10．56％时，相对标准偏差为0．28％。     

H2及H+对CxH1-x薄膜表面状态的影响

系统研究了Ｈ２流量和Ｈ＾＋原位处理ＣｘＨ１－ｘ薄膜的时间对ＣｘＨ１－ｘ薄膜的稳定时间、表面悬挂键密度和表面电子局域化程度的影响,表明ＣｘＨ１－ｘ薄膜的长时间Ｈ＾＋原位处理是减小ＣｘＨ１－ｘ薄膜表面悬挂键密度的有效途径。     

CuxC60薄膜紫外-可见吸收光谱研究

近来,有关C60的研究主要集中在有关晶格动力学、电子结构和MxC60（M代表碱金属或碱土金属）的超导电性研究。但由于MxC60在大气中不能稳定存在,制约了MxC60的深入研究和实际应用。最近,Masterov等人报导了他们对Cu/C60的超导特性研究,认为其转变温度Tc在80－120K之间,这个转变温度比现有的MxC60的转变温度Tc-40K）要高得多,但有关更进一步的研究未见报导,因此,我们拟对CuxC60体系作较为详尽的研究,这对于进一步研究其超导机理是有必要的,本工作是在成功地制备了CuxC60薄膜的基础上,对其紫外－可见吸收光谱进行了初步的研究。定性地分析了CuxC60薄膜的电子结构,利用XPS谱分析了CuxC60薄膜中Cu的化学价态。     

X射线荧光光谱法测定萤石中的氟,钙及二氧化硅

提出艇偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融制样，以Ｘ－射线荧光光谱法定量测定萤石中ＣａＦ２、总钙和二氧化硅。经实际试样和标准试样检测，本法可用实际试样分析，在ＣａＦ２含量为７７－９８％时，其最大误差为０．６０％。