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利用STM和CV方法测定有机发光材料的能带参数   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
利用扫描隧道显微镜/扫描隧道谱(STM/STS)的技术,研究了有机发光材料Alq3、DPN-2CN和DNP-2CN的表面电子结构。将材料DPN-2CN和DNP-2CN的表面电子结构与Alq3的表面电子结构进行对比,判定了DPN-2CN和DNP-2CN的最低空轨道(LUMO)能级。通过电化学循环伏安(CV)法,对DPN-2CN和DNP-2CN的LUMO能级和最高占有轨道(HOMO)能级进行了表征。两种测试方法所得到的LUMO能级参数基本一致。  相似文献   
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