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系统研究了 H2 流量和 H 原位处理 Cx H1-x薄膜的时间对 Cx H1-x薄膜的稳定时间、表面悬挂键密度和表面电子局域化程度的影响 ,表明 Cx H1-x薄膜的长时间 H 原位处理是减小 Cx H1-x薄膜表面悬挂键密度的有效途径。  相似文献   
2.
本文报导了XASM-800型多功能表面分析系统的离子枪枪心的改造与修复技术,它能长期反复地使用。  相似文献   
3.
H2及H+对CxH1-x薄膜表面状态的影响   总被引:17,自引:13,他引:4       下载免费PDF全文
系统研究了H2流量和H^+原位处理CxH1-x薄膜的时间对CxH1-x薄膜的稳定时间、表面悬挂键密度和表面电子局域化程度的影响,表明CxH1-x薄膜的长时间H^+原位处理是减小CxH1-x薄膜表面悬挂键密度的有效途径。  相似文献   
4.
本文报导了XASM-800型多功能表面分析系统的离子枪枪心的改造与修复技术,它能长期反复地使用。  相似文献   
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