Lu2O3纳米粉体和透明陶瓷中掺杂Nd3+的局域结构研究

利用扩展X射线吸收精细结构光谱(EXAFS)研究了不同掺杂浓度Nd3+:Lu2O3纳米粉体和透明陶瓷中Nd3+的局域结构.结果表明,在不同条件下Nd3+均以固溶取代Lu3+的方式进入Lu2O3基质晶格,掺杂Nd3+原子的第一配位键长约为0.225 nm,小于Nd2O3纳米粉中Nd-O第一近邻键长0.251 nm,而大于...     

新石器晚期祭祀彩石的多种谱学方法研究

作为“中国古代文明探源工程”在淮河流域确定的唯一一处重要的龙山文化时期遗址,安徽省蚌埠市禹会遗址出土了大量彩石,引起考古学界广泛关注。本文利用同步辐射X射线荧光(SR-XRF)、X射线衍射(XRD)、激光拉曼光谱(LRS)、热释光光谱(TL)等多种光谱分析手段,并结合电子探针(EPMA)分析结果,对禹会遗址出土“红-黄”彩石不同颜色区域的元素、物相组成及经热历史进行了测定。结果表明,该矿石主体为褐铁矿,有大量石英夹杂,表层黄色物质主要为针铁矿(α-FeOOH),红色物质主要为赭石(α-Fe₂O₃+粘土+硅土);内部主要是隐晶质针铁矿,并含有一定数量铬铁矿、二氧化锰,及少量重晶石和金属铋。该类彩石并无人工热历史,应属于一种性质独特、地质起源复杂的多金属天然矿石,大量出现在新石器时代晚期遗址之中,可能与某种原始信仰和特殊祭祀活动有关。     

添加Dy在快淬NdFeB永磁体中的作用

在之前研究Nb元素的添加对快淬(Nd,Dy)_11.5Fe_82.4-mNb_mB_6.1永磁体磁性能、温度特性及显微组织影响的基础上，进一步研究了Dy元素在Nd_11.5-nDy_nFe_81.4Nb₁B_6.1 (n＝0,0.5,1,1.5,2)永磁体中     

Structural and Magnetic Properties of Codoped ZnO based Diluted Magnetic Semiconductors

Zn1-xCoxO （x = 0.01, 0.02, 0.05, 0.10 and 0.20） diluted magnetic semiconductors are prepared by the sol-gel method. The structural and magnetic properties of the samples are studied using x-ray diffraction （XRD）, extended x-ray absorption fine structure （EXAFS） and superconducting quantum interference device （SQUID）. The XRD patterns does not show any signal of precipitates that are different from wurtzite type ZnO when Co content is lower than x = 0.10. An EXAFS technique for the Co K-edge has been employed to probe the local structures around Co atoms doped in ZnO powders by fluorescence mode. The simulation results for the first shell EXAFS signals indicate that Zn sites can be substituted by Co atoms when Co content is lower than x = 0.05. The SQUID results show that the samples （x 〈 0.05） exhibit clear hysteresis loops at 300K, and magnetization versus temperature from 5 K to 350K at H = 100 Oe for the sample x = 0.02 shows that the samples have ferromagnetism above room temperature. A double-exchange mechanism is proposed to explain the ferromagnetic properties of the samples.     

静态法和X射线吸收精细结构光谱技术研究腐殖酸对Eu(III)在高庙子膨润土上的吸附影响

膨润土由于其高吸附性和低渗透性而受到广泛的研究. 在本文中, 利用XRD、FTIR和酸碱滴定对我国内蒙古高庙子膨润土进行了详细的表征和分析. 用静态法研究在温度为25± 2 ℃和0.01 mol/L NaClO4溶液中, pH值、腐殖酸、接触时间和Eu(III)初始浓度对Eu(III)在钠基膨润土上的吸附影响. 研究结果表明Eu(III)的吸附受pH值影响明显. 在低pH值条件下, 腐殖酸对Eu(III)的吸附影响微弱, 而在高pH值条件下腐殖酸降低Eu(III)的吸附. X射线吸收精细结构光谱(XAFS)技术对吸附在膨润土上的Eu(III)局域微观结构研究结果表明, 在pH为4.15条件下, Eu在膨润土上与其周围的氧原子间的距离大约为2.39 Å. 本文中的研究结果对于评估其他三价镧系和锕系元素在作为填充材料的膨润土上的吸附和迁移具有重要的意义.     

添加Dy在快淬NdFeB永磁体中的作用

在之前研究Nb元素的添加对快淬(Nd,Dy)_11.5Fe_82.4-mNb_mB_6.1永磁体磁性能、温度特性及显微组织影响的基础上,进一步研究了Dy元素在Nd_11.5-nDy_nFe_81.4Nb₁B_6.1 (n＝0,0.5,1,1.5,2)永磁体中 关键词： NdFeB 磁性能 温度特性 显微组织 X-ray absorption fine structure     

Si/Gen/Si(001)异质结薄膜的掠入射荧光X射线吸收精细结构研究

利用掠入射荧光X射线吸收精细结构(XAFS)方法研究了在400℃的温度下分子束外延生长的Si/Gen/Si(001)异质结薄膜(n=1,2,4和8个原子层)中Ge原子的局域环境结构.结果表明,在1至2个Ge原子层(ML)生长厚度的异质结薄膜中,Ge原子的第一近邻配位主要是Si原子.随着Ge原子层厚度增加到4 ML,Ge原子的最近邻配位壳层中的Ge-Ge配位的平均配位数增加到1.3.当Ge原子层厚度增加到8 ML时,第一配位壳层中的Ge-Ge配位占的比例只有55%.这表明在400℃的生长条件下,Ge原子有很强的迁移到Si覆盖层的能力.随着Ge层厚度从1增加到2,4和8 ML,Ge原子迁移到Si覆盖层的量由0.5 ML分别增加到1.5,2.0和3.0 ML.认为在覆盖Si过程中Ge原子的迁移主要是通过产生Ge原子表面偏析来降低表面能和Ge层的应变能.     

Si/Gen/Si(001)异质结薄膜的掠入射荧光X射线吸收精细结构研究

利用掠入射荧光X射线吸收精细结构(XAFS)方法研究了在400℃的温度下分子束外延生长的Si/Ge_n/Si(001)异质结薄膜(n=1，2，4和8个原子层)中Ge原子的局域环境结构.结果表明，在1至2个Ge原子层(ML)生长厚度的异质结薄膜中，Ge原子的第一近邻配位主要是Si原子.随着Ge原子层厚度增加到4ML，Ge原子的最近邻配位壳层中的Ge-Ge配位的平均配位数增加到1.3.当Ge原子层厚度增加到8ML时，第一配位壳层中的Ge-Ge配位占的比例只有55%.这表明在400℃的生长条件下，Ge原子有很强的迁移到Si覆盖层的能力.随着Ge层厚度从1 增加到2，4和8ML，Ge原子迁移到Si覆盖层的量由0.5ML分别增加到1.5，2.0和3.0ML.认为在覆盖Si过程中Ge原子的迁移主要是通过产生Ge原子表面偏析来降低表面能和Ge层的应变能. 关键词： XAFS n/Si(001)异质膜')" href="#">Si/Ge_n/Si(001)异质膜 迁移效应