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1.
BES-Ⅲ MC 前端板FPGA的辐射损伤实验   总被引:1,自引:0,他引:1  
研究了Altera公司ACEX 1K系列现场可编程逻辑门阵列(FPGA,Field Programmable Gate Array) EP1K30TC144-3在g射线和14MeV、2.5MeV中子照射下的辐射影响,对得到的试验结果给出了分析和评估. 对于在BES-IIIm子鉴别器读出电子学系统上应用ACEX 1K系列FPGA的可行性给出了结论.  相似文献   
2.
KGeneral是在ROOT程序包下开发的一个高能物理实验在线监测程序.它读取KLOEGlobal程序的文件,显示KLOE实验的探测器、电子学线路、DAQ重建数据的各物理量和加速器运行状态的参数,并定时刷新,以跟踪实验当前状态和数据质量.KGeneral程序设有Custom选项,可以把用户感兴趣的图形在同一画板上显示.KGeneral程序也有纵向和横向的Slider,以便用户放大图形,更好地观察参数图形的细节.  相似文献   
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