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采用射频磁控溅射方法在纯N2气氛中沉积了非晶CNx薄膜样品,并 在真空中退火至900 ℃.对高温退火引起的CNx薄膜化学成分、键合结构及其场发射特性方面的变 化进行研究.用傅里叶变换红外光谱和x射线光电子能谱分析样品的内部成分及键合结构的变化,其中sp2键及薄膜中N的含量与薄膜的场发射特性密切相关.退火实验的结果表明 高温退火可以导致CNx薄膜中N含量大量损失,并在薄膜中形成大量sp2<
关键词:
x薄膜')" href="#">CNx薄膜
化学键合
退火温度
场致电子发射 相似文献
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采用射频磁控溅射方法在纯N2气氛中沉积了非晶CNx薄膜样品,并在真空中退火至900 ℃.对高温退火引起的CNx薄膜化学成分、键合结构及其场发射特性方面的变化进行研究.用傅里叶变换红外光谱和x射线光电子能谱分析样品的内部成分及键合结构的变化,其中sp2键及薄膜中N的含量与薄膜的场发射特性密切相关.退火实验的结果表明高温退火可以导致CNx薄膜中N含量大量损失,并在薄膜中形成大量sp2键,这些化学成分及键合结构上的变化将直接影响CNx薄膜的场发射特性.与其他温度退火样品相比,750 ℃退火的样品具有最低的阈值电场,显示出较好的场发射特性. 相似文献
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利用自制的数据采集系统研究了恒定电压下TC4钛合金微弧氧化(MAO)过程中有关电学参量随处理时间的变化规律. 结果表明,通电回路中的阴极和阳极峰值电流随处理时间的变化明显分为4个阶段;膜厚度随处理时间的变化明显分为3个阶段;氧化膜的动态正、反向电阻和动态正、反向电阻率也随处理时间分阶段变化. MAO过程中,各时刻的动态正、反向电阻值不同,一般情况下,动态正向电阻大于反向电阻. 对不同处理时间样品的扫描电子显微镜分析表明,MAO膜呈多孔结构并随处理时间变化. 相似文献
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Prefer-oriented and fine grained polycrystalline GaN films are prepared by plasma enhanced metal organic chemical vapour deposition on nucleation surfaces of freestanding thick diamond films. The characteristics of the GaN films are characterized by x-ray diffraction, reflection high energy electron diffraction and atomic force microscopy. The results indicate that the structure and morphology of the films are strongly dependent on the deposition temperature. The most significant improvements in morphological and structural properties of GaN films are obtained under the proper deposition temperature of 400°C. 相似文献
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利用微弧氧化(MAO)技术,在LYl2铝合金上沉积了显微硬度达42.14GPa的超硬陶瓷膜.采用x射线衍射仪和显微硬度计研究了阳极电流密度ja和阴极、阳极电流密度比jc/ja对MAO膜相构成和力学特性的影响.此外,利用扫描电子显微镜和恒电位仪分别对膜的微结构和抗点腐蚀特性进行了分析.结果表明,高ja制备的膜主要含α-Al2O3相,低ja制备的膜主要含γ-Al2O3相.显微硬度测试表明,这类膜有较高的硬度,但以ja=15A/dm2和jc/ja=0.7制备的陶瓷膜硬度最高.抗点腐蚀测试表明,jc/ja对陶瓷膜的微结构有很强的影响.
关键词:
微弧氧化
显微硬度
电流密度
抗点腐蚀 相似文献
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