首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   1篇
  免费   7篇
物理学   8篇
  2003年   2篇
  2002年   2篇
  2001年   4篇
排序方式: 共有8条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
利用能量为 1 .7Me V,注量分别为 1 .2 5× 1 0 13 /cm2 ,1 .2 5× 1 0 14 /cm2 ,1 .2 5× 1 0 15/cm2 的电子束辐照 VO2 薄膜 ,采用 XPS,XRD等测试手段对电子辐照前后的样品进行分析 ,并研究了电子辐照对样品相变过程中光透射特性的影响。结果表明电子辐照引起 VO2 薄膜中 V离子出现价态变化现象 ,并使薄膜的 X射线衍射峰发生变化。电子辐照在样品中产生的这些变化显著改变了 VO2 薄膜的热致相变光学特性  相似文献   
2.
高反射膜激光零几率损伤阈值的实验研究   总被引:3,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
 在确定光学薄膜激光损伤阈值的实验数据处理过程中,发现一些样品的数据点分布偏离直线型式。对此,用国际标准规定的零几率来确定损伤阈值的同时,对测试数据点采用了不同的非直线拟合,也得到一个零几率损伤阈值。比较两者差异,并与实验测试结果对照,发现这些样品采用非直线拟合得出的零几率损伤阈值与实际情况更接近一些。  相似文献   
3.
用透射反射扫描法检测光学薄膜的激光损伤   总被引:9,自引:4,他引:5       下载免费PDF全文
 用波长1.06μm的激光透射反射自动扫描装置扫描了激光辐照前后薄膜的反射比和透射比。薄膜样品的工作波长为1.06μm。将扫描结果与相衬显微镜观察到的形貌相对照。实验结果表明,用透射反射扫描法不仅能反映出相衬显微镜所能观察到的损伤,而且也能发现某些显微镜所不能发现的损伤。由于透射比和反射比可以反映出薄膜对激光的传输性能,因此也能反映出薄膜能否继续工作,以此来判定损伤与否。因此用透射反射扫描法可以作为检测损伤的手段,由于简单易行,可以在线检测。避免目前损伤测试工作中繁重的人工操作。  相似文献   
4.
王鹏  林理彬  谢千河  甘荣兵 《物理实验》2001,21(6):15-17,26
采用解析法和Monte-Carlo方法相结合的Windows环境下模拟计算了不同能量的质子在Si,Ge等半导体物质和Au-Si探测器内的运动情况,并用计算机实际作出了质子在以上物质中的运动径流,直观动态的描绘了质子在半导体物质中的运动情况,得到了比较符合实际的模拟结果。  相似文献   
5.
UBK7玻璃后表面缺陷诱导体内激光损伤   总被引:10,自引:3,他引:7       下载免费PDF全文
 对UBK7玻璃在波长为1.064靘的短脉冲激光作用下产生的损伤进行了研究。通过对体损伤的形貌的相衬显微镜观测,发现体内和后表面炸裂点间的丝状损伤,从而提出后表面缺陷导致体损伤的理论解释。同时分析了表面损伤和体损伤的机理,对后表面损伤阈值低于前表面的原因作了讨论。  相似文献   
6.
 利用能量为1.7MeV, 注量分别为1.25×1013/cm2, 1.25×1014/cm2, 1.25×1015/cm2的电子束辐照VO2薄膜,采用XPS, XRD等测试手段对电子辐照前后的样品进行分析,并研究了电子辐照对样品相变过程中光透射特性的影响。结果表明电子辐照引起VO2薄膜中V离子出现价态变化现象,并使薄膜的X射线衍射峰发生变化。电子辐照在样品中产生的这些变化显著改变了VO2薄膜的热致相变光学特性。  相似文献   
7.
 随着光学元件损伤阈值测试研究工作的深入开展,有效、准确地测量和描绘它们的激光损伤阈值需要考虑多个因素。从不同口径的测试光束入手,采用R∶ 1测试方式,运用R∶ 1平均阈值的新概念,讨论了相同样品用不同测试口径测试其损伤阈值时,所得测试结果与测试口径的关系。研究表明,随着测试口径的增大,相同样品的损伤阈值逐渐减小,当测试口径增大到一定值时,损伤阈值趋于稳定。  相似文献   
8.
光学膜层激光损伤阈值均匀性的实验研究   总被引:4,自引:0,他引:4       下载免费PDF全文
 镀制了多种氧化物介质薄膜。用R-on-1方法测定了膜层的激光损伤阈值。引入数据处理方法,对测试数据进行分析。结果表明,基片清洗后,若放置一段时间再镀膜,则会影响到镀膜后膜层损伤阈值的均匀性,但对损伤阈值自身大小没有影响。测试激光参数对阈值均匀性也有一定影响。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号