双面金属包覆介质波导模序数的判别方法

在双面金属包覆介质波导中 ,随着介质层厚度的变化 ,会出现TM0 模与TM1 模的分离和简并两种状态 ,从而影响衰减全反射 (ATR)谱中模序数的确认。通过对金属波导的理论分析和实验研究 ,提出了三种模序数确认方法 :本征角计算法、吸收峰全峰半宽比较法和吸收峰峰间距比较法 ,实现了两种状态下对模序数的准确判断     

分辨率为1pm的波长监测新方法

在亚毫米尺度金属包覆波导研究基础上，提出了一种波长监测的新方法.实验采用自由空间耦合技术，激发了波导中对波长变化十分灵敏的超高阶导模，并以此为探针，实现了1pm波长漂移的监测. 关键词： 波长监测 金属包覆波导 超高阶导模     

基于单通道反射型电光调制器实现不同路光同时调制的方法

提出了一种利用单通道反射型聚合物电光调制器同时调制不同路光的方法。衰减全反射结构的电光调制器,其每一个衰减全反射(ATR)峰的位置分别对应于一个导波共振模式。实验系统中利用衰减全反射导膜峰作为调制通道,使其每一路光路的入射角分别对应于不同导波共振模式的工作角,就可以实现利用单通道的电光调制器同时调制不同路光。提出了三种实现两路光同时调制的模式,并给出了三种模式的调制结果。结果表明,作为调制通道的导模阶数越低,调制效率越高。在832 nm光波波长下,采用最低阶导模进行调制时可以获得42.9%的调制效率。     

衰减全反射型电压传感器的理论和实验研究

提出了一种新型反射型聚合物波导电压传感器理论，并且进行了实验研究。这种电压传感器采用棱镜波导耦合结构，在棱镜下底面依次镀有金属膜一聚合物一金属膜三层结构。通过两层金属膜对极化聚合物加电压，利用聚合物材料电光效应和导模共振吸收峰对聚合物折射率的敏感特性，通过反射光强的测量来确定作用电压的变化值。实验中的测试电压范围是从-140V至 140V，得到的线性度值为0．991，电压测量的分辨力为0．1V，电压测量灵敏度系数为0．0011V^-1。实验表明这种电压传感器具有良好的线性和较高的灵敏度。     

渐变折射率光波导转折点外指数衰减场的推导

证明了渐变折射率光源导转折点外的模场呈简单的指数衰减形式,指数衰减系数可用一恒定的等效折射率定义。     

导波法测量吸收薄膜的复介电系数和厚度

具有吸收特性的波导薄膜,其衰减全反射（ＡＴＲ）峰的位置和形状包含了薄膜诸多特征多数的信息,在同时考虑棱镜的耦合和材料的吸收的基础上,本文用一阶微扰理论推导了微扰传播常数的解析公式,并且介绍了通过分析薄膜的衰减全反射峰来计算吸收薄膜的复介电系数和厚度的方法。     

低损耗有机聚合物光波导的制备及其数字化测量技术

介绍了低损耗有机聚合物光波导的制备工艺, 并采用 Ｃ Ｃ Ｄ 摄像法对波导的传输损耗进行测量。制备了在 ６３２．８ ｎｍ 波长下传输损耗小于 ０．５ ｄ Ｂ／ｃｍ 的有机聚合物光波导     

基于亚毫米尺度金属包覆波导的脉冲展宽

利用自由空间耦合技术,用超短脉冲激发亚毫米尺度对称金属包覆波导中的超高阶导模,提出一种脉冲展宽的新方法。由于超高阶导模的强色散性质,经过短距离的传输,即可使脉冲宽度迅速展宽。理论分析表明,1 ps的光脉冲在光波导中传输毫米量级距离后,脉冲展宽因子可达到1000倍。     

渐变折射率波导表面折射率的确定

单调变化的渐变折射率波导的表面折射率大于波导基模的有效折射率，因而不能用传统的m-线方法测量。利用分析转移矩阵(ATM)方法研究了渐变折射率波导中的表面等离子波，提出了一种确定波导近表面折射率的实验技术，在波导折射率分布的拟合中，得到了比传统逆WKB方法更为合理的结果。     

基于内反射效应的可变光学衰减器

提出一种基于内反射原理的可变光学衰减器，这种利用一加长的棱镜和涂于棱镜上下两底面的SiO2薄膜的简单结构，使随入射角变化的反射光实现弱偏振相关和大动态范围的衰减。