HL-1M边缘等离子体静电湍流扰动

对HL－1M边缘等离子体静电湍流扰动进行了初步的实验研究。获得了扰动的基本特征量，估计了低杂波引起的径向粒子流的变化。在加低杂波（2．45GHz)前、后，电子密度扰动和极向电场扰动的幅度及其关联性变化不大。虽然低杂波部分抑制了静电湍流，但在数量上不能解释粒子约束改善的实验结果。     

HL-1装置边缘区的电探针测量

用一个可移动的静电双探针获得了HL-1装置边缘区电子温度T_e,电子密度n_e的时空分布。实验测得孔栏边缘处T_e和n_e。分别约为12eV和3×10~(11)cm~(-3),n_e沿小半径方向的径向梯度约4.7X 10~(11)cm~(-3);在等离子体边缘区,n_e,T_e的e倍衰减特性长度分别约为20mm和27mm,在删削区内,λ_n,λ_T急剧减小。粒子的横向扩散系数与玻姆系数同量级。     

微型环流器的电磁测量

本文概述了微型环流器的几项电磁测量方法及其实验结果。利用磁探头测量了等离子体柱的位移,对等离子体平衡和稳定性作了进一步的观测。利用等离子体反磁测量得到T_e+T_i为36—50电子伏,τE约为80微秒。利用自制的参数测量仪测量了具有时间分辨的等离子体电导率与欧姆加热功率。由电导率及静电探针测量得到T_e约为20电子伏。由静电探针测量得到n_e约为10~(13)厘米~(-3)。     

微型环流器实验

本文描述了“微型环流器”装置的调试和实验结果。对放电中出现的破裂不稳定现象作了观测,并用表面探头观察了放电中的单极弧。     

“微环”装置中的单极弧研究

在小型的托卡马克“微环”装置上,我们使用由内窥镜—纤维光导—高速分幅摄影机及单色仪—光电记录组成的时空分辨的实时观测系统,研究了暴露在等离子体中的表面探头上一次及多次的单极弧。观察到弧斑沿弧迹的产生经过及其眺跃运动。观察到一个弧斑的弧电流约为30—170安培,单个弧斑的发光持续时间是几微秒到儿十微秒;在表面上移动的速度是20—400米/秒;由一次单极弧形成一条弧迹的时间是几十到几百微秒。在材料和方位不同的探头上得到各种分叉形状的弧迹。研究了弧和主放电之间的一些关系。     

微环装置中等离子体电位测量

等离子体电位是托卡马克装置的一个重要参数。它的测量在放电机制、等离子体的平衡与稳定、等离子体-表面相互作用以及杂质控制等研究课题中有着极其重要的作用。 本文描述用朗谬尔探针,以及由它组成的对称双探钎系统(以下简称SDP系统)测量微环托卡马克边界区等离子体电位V_0的两种方法和结果。     

“微环”电流密度分布的实验研究

本文用一个内磁探针,获得了“微环”托卡马克的环向电流密度j_φ剖面和磁轴位置随放电条件及时间的变化。观测到j_φ的最大值点偏离小环几何中心5—15mm,并对j_φ在室壁附近出现的反向现象作了初步的物理解释,最后对磁轴位移进行了分析,与等离子体位移的测量结果定性符合。