显微物镜的象质检测

<正> 一、引言自从傅里叶光学诞生以来,光学传递函数(OTF)越来越普遍地成为光学系统象质评价的手段。显微物镜的象质评价,严格地讲应当根据部分相干的理论,利用部分相干互强度的普遍的传递理论来加以讨论。然而M.Born和E.Wolf、庄松林和陈祥桢等都曾经指出:当显微镜聚光镜的数值孔径和物镜数值孔径之比m≈1时。已经相当接近于完全非相干的情况,     

微型自适应光学系统的波前重构算法

基于测量所得的 37通道微型机械薄膜变形镜的影响函数矩阵和微型自适应光学系统 ,给出模式法波前重构与补偿的微型变形镜的控制电压 ,模拟计算和微型自适应光学系统的实验结果说明所得结果是正确可行的     

激光等倾干涉法

本文介绍一种新的基于两点光源干涉原理的精确检测透镜中心偏的方法。利用由静止参考面和位于空气轴承转台上的被检透镜表面之间产生的非定域干涉条纹,可以把透镜的面倾角误差大大放大并加以检测。这种方法与现有的透镜中心偏检测方法相比具有精度高、操作简便、并与透镜形状无关等明显优点。理论与实践证明,如果参考面的曲率半径和参考面与被检面之间的空气间隔选得合适,那么即使用肉眼也能检测出约1″大小的透镜面倾角误差。     

用于扩展目标自适应光学校正的相关波前传感器的理论和实验

研究了使用非相干、扩展光源的波前误差测量技术，分析了使用强度透过串型像面掩模的扩展目标相关波前探测原理，讨论了模拟目标的选择问题，探讨了根据目标图像生成像面掩模图像、进而制作像面掩模的方法，给出了所生成的像面掩模图像的典型结果，进行了以强度透过率型掩模为特征的单子孔径扩展目标波前传感器原理实验，比较了两种不同掩模的波前探测效果，获得了与理论分析一致的实验结果。     

主动光学技术在制造标准大反射镜中的应用

介绍了利用主动光学技术校正大型标准反射镜残余面形误差和重力变形的方法 ,研制了用于施加局部作用力的工具———机械式作动器的结构与性能 ,作用力的测定方法 ;位于不同位置的作用力引起的镜面变形量的测定与分析 ,与镜面最小面形误差对应的作动器作用力控制矩阵的求解等。对一块Φ2 30mm、中心厚 18mm、R880mm、玻璃材料为K 9的标准球面镜进行了面形误差校正实验 ,取得了较明显的校正效果。     

校正空间分块镜复位误差所需的最少自由度的确定

可收展式分块镜共相位成像技术是实现光学系统超大口径、超高分辨率成像的关键技术。分块镜复位误差会引起各子镜之间的共相位误差和整个拼接镜面的面形误差。合理确定校正分块镜复位误差所需的自由度具有非常重要的意义。计算机仿真分析了分块镜的复位误差对拼接镜面面形误差的影响。结果表明,所需的校正自由度的个数不仅与展开机构的复位精度有关,而且与分块镜镜面的几何参数有关。     

13单元双压电晶片变形反射镜控制电极的优化设计

双压电晶片变形反射镜具有动态范围大、工作电压低、结构简单、造价低廉等优点，是自适应光学系统中用作波前校正器的新型器件。利用ｋｏｋｏｒｏｗｓｋｉ导出的自由边界条件下双压电变形镜表面位移—电压所满足的偏微分方程，分别运用Ｇａｕｓｓ迭代法和Ｍｏｎｔｅ－Ｃａｒｌｏ法求解该方程的第一边界条件，得出变形镜的静态影响函数矩阵Ｚ（ｘ，ｙ）；按不同电极设计情况划分，以１３组Ｚ（ｘ，ｙ）为基，对Ｚｅｒｎｉｋｅ多项式低阶模进行逐项拟合，得出变形镜控制电极的大小、形状等优化参数，从而得到最佳静态影响函数矩阵以及反演电压矩阵。     

用于扩展目标自适应光学校正的相关波前传感器的理论实验

研究了使用非相干、扩展光源的波前差测量技术，分析了使用强度透过率型像面掩模的扩展目标相关波前探测原理，讨论了模拟目标的选择问题，探讨了根据目标图像生成像面掩模图像、进而制作像掩模的方法，给出了所生成的像面掩模图像的典型结果，进行了以强度透过率型掩模为特征的单孔径扩展目标波前传感器的实验，比较了两种不同掩模的波前探测效果，获得了理论分析一致的实验结果。     

以光子计数技术为基础的极低照度测量

微照度计的测量灵敏度通常限于1×10~(-6)lx水平,这在许多场合都不能满足要求。但只要确定了光通量与光子速率之间的内在联系,利用光子计数器和微照度计的结合,就可以把微照度的测量灵敏度提高到1×10~(-10)lx水平。文中导出了光通量与光子速率的理论计算公式;介绍了极低照度测量实验系统;并根据光子计数器的时间分辨率和光子的泊松分布以及暗记数水平,分别分析了微照度测量的上、下限范围。     

不等臂干涉仪中激光准直系统视差的影响及其检验

<正> 在干涉仪中由于用了相干性良好的氦氖激光光源,使参考光路与测试光路间的干涉程差允许大大增加,有的可达几十米。这种参考光路与测试光路间光程差很大的干涉仪通常称为不等臂干涉仪或不等程干涉仪。在以往的迈克尔逊型干涉仪中,使用普通光谱灯作光源。由于光源的干涉程长较短,一般为几十毫米,所以仪器实际工作时的参考光路与测试光路处于接近等光程的状态,这时准直系统即使由于视差、象差或其它原因而使出