电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定纯硼等13个杂质元素

研究了纯硅中微量和痕量杂质元素铝、钙、铁、锰、磷、铬、铜、镍、钛、钒、锆、砷和硼等电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP—AES）的同时测定方法，样品以硝酸、盐酸和氢氟酸挥硅处理方法，在样品处理过程中，加入适量的甘露醇能够抑制硼的挥发。在优化选定的仪器条件和介质中测定纯硅样品和纯硅标准样品。纯硅样品中13个杂质元素的回收率均在92．0％～105．09／6之间，相对标准偏差均小于5．0％。     

ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、 Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素

本文提供了一种测定金属硅中Ｂ,Ｆｅ,Ａｌ,Ｃａ,Ｍｎ等１４个杂质元素的ＩＣＰ－ＡＥＳ方法,在样品处理过程中,加入适量体积的甘露醇能够抑制Ｂ的挥发。用本方法测定了一个国家地球化学标准样（ＧＳＲ－４）,结果令人满意。     

沉淀分离ICP—AES测定铅锭中Te,Cr,Co,Ni杂质元素

采用硫酸沉淀分离基本元素铅后，ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定铅锭中Ｔｅ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ杂质元素。试验证明在本文提供的条件下Ｓｅ会以ＰｂＳｅＯ３的形式与ＰｈＳＯ４共沉淀，而Ｔｅ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ等待测元素则保留在溶液中。待测元素加标回收率在８６．４％￣１０８．４％之间。     

ICP-AES法直接测定仲钨酸铵中钠、钾含量

采用样品溶解后基体匹配ＩＣＰ－ＡＥＳ法直接测定了仲钨酸铵中Ｎａ,Ｋ含量,实验表明,当选用较低的ＲＦ入射功率时,待测元素的分析线信背比较高,基体干扰较小,本方法回收率在９４％￣１０９％之间。Ｎａ、元素的测定下限分别是：０．０１３,０．０７９μｇ／ｍＬ。     

ICP-AES法测定碲锭中Al、Ag、Bi、Cu、Cd等13个杂质元素

本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）测定碲锭中Ａｌ、Ａｇ、Ｂｉ、Ｃｕ、Ｃｄ 等１３ 个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰,测定结果令人满意。     

ICP—AES法测定碲锭中A1,Ag,Bi,Cu,Cd等13个杂质元素

本文介绍了采用电感耦合等离子体发射光谱尖（ＩＣＰ－ＡＥＳ０测定碲锭中Ａ１、Ａｇ、Ｂｉ、Ｃｕ、Ｃｄ等１３个杂质元素的方法。采用离峰扣背景法校正了碲基体的干扰,测定结果令人满意。