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绝缘层LiF/Al电极对提高P-PPV发光器件发光性能的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
为了提高聚合物电致发光器件中Ba(Ca)/Al阴极的稳定性,在该阴极与聚合物发光材料poly(2-(4-ethylexyl)phenyl-1,4-phenylene vinylene)(P-PPV)层之间插入一层7nm的LiF绝缘层,发光器件的发光性能在多项参数(发光器件的电压.电流特性、发光强度及外量子效率,以及电流效率等发光性能指标)上能够与工作性能优良但稳定性较差的Ba(Ca)/Al电极结构PLEDs器件的发光特性具有可比性。这对于研制高效率、高稳定的聚合物电致发光器件并最终将其用于商业目的,具有重大现实意义。 相似文献
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一种新型共轭聚合物发光二极管老化的拉曼光谱研究 总被引:1,自引:1,他引:0
通过显微共焦拉曼光谱 ,对一种以新型的共轭聚合物半导体材料 3,4 (2 乙基己氧基 )苯基 1,3 丙二醇酯 (poly(2 (4 Ethylhexyl) phenyl 1,4 phenylenevinylene) (P PPV) )为发光层的聚合物发光二极管(PLEDs)器件进行了老化研究 ,无论是光致发光光谱还是拉曼光谱都提供证据说明造成器件老化的原因主要是发光层的聚合物的主链结构 ,即聚合物的共轭结构被破坏 ,这对提高以P PPV作为发光层的PLEDs器件的性能提出有用信息。 相似文献
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多光谱辐射测温的正交多项式回归方法 总被引:1,自引:1,他引:0
对于多光谱辐射测温问题,传统的数据处理方法多为最小二乘法、多元线性回归拟合和逐步回归拟合.这些处理方法自身都存在一定的缺陷,使得拟合结果与物体表面真温之间存在一定的误差.文章在可变发射率模型的基础上,提出了对多光谱辐射测温数据处理的另一种新方法--正交多项式回归方法.文章阐述了正交多项式回归的数学基础,并根据钨表面在不同温度下的光谱发射率数据,分别采用逐步回归方法和正交多项式回归方法,对钨表面的真温进行了模拟.通过拟合结果的对比发现用正交多项式回归方法来处理数据,其原理简单、运算量小,拟合结果与表面真温之间的相对误差也较小.得出的结论是用正交多项式回归方法对多光谱辐射测温的数据进行处理,拟合结果比传统方法误差小、速度快、精度高. 相似文献
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共焦显微拉曼光谱深度剖析法在笔迹鉴定中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
利用共焦显微拉曼光谱纵向扫描采样手段,发展了一种深度剖析光谱方法在法庭科学领域的新应用,并将此方法具体运用到了书写笔迹与印章印泥的鉴定,在纵向上区分笔迹和印泥的空间位置上取得了很好效果。该方法具有快速、简便、灵敏度高、对样品无损伤等优点。 相似文献
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PFO-BT15是一种电致发光中心波长为550 nm的新型共轭高分子聚合物材料,将其制成发光二极管器件,结构为ITO玻璃/聚合物PEDOT(120 nm)/有机聚合物PFO-BT15(80 nm)/Ba(4 nm)/Al(200nm),用环氧树脂对阴极侧进行了封装,以减少氧气和水分的进入,从而影响器件的发光性能.在室温环境下对同样的器件进行不同电流密度的电老化处理,记录器件的电流电压曲线,再对老化的样品做电致发光和喇曼光谱测试.实验发现:一方面,通过器件恒定电流的大小影响器件的电压变化速度;另一方面,器件经过一定长时间的电老化,电致发光中心波长变化较小.通过啦曼光谱的测试,推断是因为PEDO'I、阳极的破损导致了器件的最终发光失败,而器件发光层材料的结构保持相对稳定,说明这种结构的聚合物有着相对稳定的光电性能,对于提高材料发光的稳定性提供了有价值的信息,有助于其他高效发光材料的合成以及稳定性的提高. 相似文献
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采用互相关分析,研究近红外光谱的模型传递问题。提出了对2台近红外光谱仪所采集的光谱数据分别进行互相关运算以后,所得到的2台光谱仪的互相关函数之间存在1个固有倍率常数的假设,并且通过实验证实了这个假设。通过补偿这个倍率常数,从而增强了模型之间的兼容性,得到了很好的预测结果。 相似文献
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对多组分混合物近红外光谱的相关系数进行了细致的研究,指出了多组分近红外光谱中相关系数的特点;证明了采用相关系数较高的波段建立模型会得到更理想预测值的原理;并用对二甲苯、间二甲苯、邻二甲苯混合溶液的处理对原理进行了验证。 相似文献