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粒子图像测速技术(PIV)通过测量被测流场截面上每一位置点的速度,获得整个被测流场的信息.在PIV一般应用中所使用的照明激光片光与成像CCD装置的拍摄方向是垂直的,在某些应用场合受测试条件的限制,需要采用离轴方式进行测量,此时CCD成像方向与照明的激光片光不垂直,而是有一定夹角.离轴测试方式将对PIV系统的光学成像系统、示踪粒子选择和粒子图像处理带来影响.实验采用Scheimpflug离轴聚焦的方法对表面镀银高反射率的示踪粒子进行成像,通过调整成像透镜与CCD像面的夹角可获得清晰的粒子成像,并利用网格校正板和软件计算处理等方法有效校正了由于离轴测试带来的影响. 相似文献
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本文叙述了用脉冲激光全息术测量喷雾场中粒子的分布和运动速度的原理,阐明了同轴全息和离轴全息在测量雾场的应用范围,重点讨论了离轴全息。测量光学系统是4F系统,它可以测量粒子浓度大的雾场中大于5μm的粒子分布和运动速度。在平行光场区段,可进行不同装置、不同景深的喷雾研究,使每个粒子具有相同的放大倍数,它给再现、数据处理、粒子大小的标定都有很大的好处。文中还分析了在底片上形成干涉的各种情况;粒子直径d,远场数N和从底片到粒子的距离Z的关系。给出脉冲间隔为5μs;10μs粗度为±0.1μs时不同直径粒子的分布和运动速度在电视屏幕上显示出来的照片。在上述实验结果的基础上讨论了粒子的识别,噪音的消除等问题。 相似文献