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1.
助熔剂法生长的PLZST单晶的缺陷研究   总被引:2,自引:1,他引:1  
本文介绍了助熔剂缓慢降温自发成核法生长的稀土掺杂锆钛锡酸铅镧(PLZST)晶体中出现的几种缺陷:包裹体,开裂,位错,枝晶,分析了这些缺陷的形成机理并提出了减少和消除这些缺陷的一些措施。  相似文献   
2.
采用二次阳极氧化工艺,以含有氟化铵和水的乙二醇体系作为电解液,在纯钛表面制备有序的TiO2多孔薄膜.通过改变预处理方式、电压、氧化时间和搅拌速度等实验参数来探究其对TiO2多孔薄膜形貌的影响.结果表明,抛光后Ti基片制得的TiO2多孔薄膜表面更加平整;TiO2纳米孔的孔径和孔间距随着阳极氧化电压升高在一定范围内线性增大;TiO2纳米孔的孔径随着阳极氧化时间延长增大,孔壁随时间延长减薄,通过控制氧化时间可以实现纳米孔薄膜向纳米管阵列的转变;搅拌速度在400 r/min时,能够获得有序的自组织TiO2多孔薄膜.  相似文献   
3.
通过水热生长的预处理步骤在普通玻璃载玻片表面铺设种子层,然后采用旋涂法在处理好的衬底上涂覆前驱体溶胶,成功地制备出沿(002)晶面择优取向生长的Al掺杂的ZnO薄膜(AZO)薄膜.利用X射线衍射分析、扫描电镜表征薄膜形貌,并测定薄膜的透射率及电阻率.研究了种子层对AZO薄膜结晶性能、表面形貌及光电性能的影响.结果表明:种子层减少了薄膜生长初期的非晶成份,促进了薄膜的晶化.薄膜在可见光范围内平均透射率超过85;,导电性能也有所改善.  相似文献   
4.
Silicon-on-insulator (SOI) technology offers tremendous potential for integration of optoelectronic functions on a silicon wafer. In this letter, a 1 x 1 multimode interference (MMI) Mach-Zender interferometer (MZI) thermo-optic modulator fabricated by wet-etching method is demonstrated. The modulator has an extinction ratio of -11.0 dB, extra loss of -4.9 dB and power consumption of 420 mW. The response time is less than 30μs.  相似文献   
5.
一种新型SOI Mach-Zehnder干涉型电光调制器的设计   总被引:8,自引:8,他引:0  
严清峰  余金中 《光子学报》2003,32(5):555-558
在超紧缩双曲锥形3dB多模干涉耦合器的基础上,设计了一种新的Silicon-on-insulator (SOI) Mach-Zehnder干涉型电光调制器.与传统的Y分支器相比,双曲锥形3dB耦合器的制作容差大,而长度缩短了近30%,使得整个器件的尺寸大幅减小.调制区采用横向注入的PIN结构,模拟结果表明:当外加偏压为0.86V时,器件的调制深度最大,此时注入电流为13.2mA,对应的器件功耗为11.4mW.  相似文献   
6.
本文以ZnO为种子层采用溶胶-凝胶法制备了Li、Mg掺杂的氧化锌薄膜.利用XRD、SEM、PL等手段对薄膜的结构、表面形貌和发光性能进行了表征,研究了不同掺杂情况、种子层、旋涂次数对Li、Mg掺杂的ZnO薄膜性能的影响.结果表明预铺种子层、旋涂8次、在580℃下退火的条件下制得的薄膜性能最好,通过Li、Mg共掺杂使得ZnO薄膜的光致发光性能增强近5倍,近带边发射峰发生蓝移,禁带宽度变大.  相似文献   
7.
采用提拉法成功制备出高纯铜(Cu)单晶,最大尺寸为φ15 mm×60 mm.采用化学机械抛光(CMP)方法对Cu单晶基片进行抛光,借助光学显微镜、表面轮廓仪和扫描探针显微镜分析了基片表面形貌、表面粗糙度与表面均匀性,并探讨了抛光压力、表面活性剂和抛光垫对基片表面抛光的影响,结果表明:采用CMP加工后的铜单晶基片表面无宏观划痕、加工均匀性好,基片表面粗糙度Ra为0.921 nm.  相似文献   
8.
In this paper, we present simulation results of an electrooptical variable optical attenuator (VOA) integrated in silicon-on-insulator waveguide. The device is functionally based on free carriers absorption to achieve attenuation. Beam propagation method (BPM) and two-dimensional semiconductor device simulation tool PISCES-II were used to analyze the dc and transient characteristics of the device. The device has a response time (including rise time and fall time) less than 200 ns, much faster than the thermooptic and micro-electromechanical systems (MEMSs) based VOAs.  相似文献   
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