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1.
一维光子晶体的缺陷模特性研究   总被引:28,自引:17,他引:11       下载免费PDF全文
利用传输矩阵法研究了缺陷层有吸收的一维光子晶体的带隙结构,在中心波长附近利用泰勒展开式的一级近似得到了缺陷模的高度和半峰全宽的计算公式.研究发现,消光系数、介质周期数和缺陷层厚度对缺陷模高度的影响较大,它们的增大均使缺陷模高度快速下降;而对半峰全宽的影响主要取决于介质的周期数,随周期数的增大缺陷模快速变窄.  相似文献
2.
正交双物光全息有限角层析技术重建燃烧器温度场   总被引:7,自引:1,他引:6  
是度芳  肖旭东 《光学学报》1995,15(9):240-1244
提出了正交双物光全息干涉及限角层析技术,可以从正交两个方向同时获取物场信息,并采用循环代数迭代松驰算法重建了燃烧器热气流的一个层面温度场,得到了满意的测量精度。重建温度与四个热电偶同时测得的温度基本相符。  相似文献
3.
含负折射率介质非线性Bragg腔的双稳态特性   总被引:6,自引:6,他引:0       下载免费PDF全文
研究了含负折射率介质一维光子晶体非线性Bragg腔的透射特性、光学增强和双稳态特性.对负折射率介质无色散和有色散非线性Bragg腔及由两种正折射率介质构成的非线性Bragg腔的透射谱、光学增强、缺陷模的线宽、入射光的红移量、双稳态开关阈值进行了比较.含负折射率介质的非线性Bragg腔可显著增大腔内光学增强效应,降低缺陷模的线宽、入射光的红移量和双稳态开关阈值.  相似文献
4.
一种新颖的诊断技术:光学层面分析   总被引:4,自引:0,他引:4  
是度芳  消旭东 《物理》1990,19(9):543-547,518
本文介绍了一种适用于火焰、流体、等离子体、光纤棒等透明介质的无损诊断技术──光学层面分析(optical tomography).这一诊断技术是利用激光和计算机技术对透明介质的某一层面进行积分测量,然后建立起该层面的折射率、温度、密度等特性的二维或三维图象.文章介绍了光学层面分析重构图象的原理和三种测量方法及其对应的计算公式,并讨论了这一方法的前景.  相似文献
5.
含左手材料的一维准周期光子晶体的透射特性研究   总被引:4,自引:1,他引:3  
利用传输矩阵法,计算了含左手材料的一维准周期光子晶体的透射谱,并分析了其变化规律.结果表明:nR/ηL的比值对其透射谱影响较大,当比值为1时,透射率T恒为1,与N和△dR、△dL均无关;而当nR/ηL的比值在1.7~2.0之间、N=10时,透射谱的通带呈尖峰状,且通带中心在偶数倍频处有红移,通带峰值不变;而当nR/ηL的比值大于2.0时,在高频处的通带峰值变小,两介质的递增厚度△dR、△dL越大,nR越大,这种变化越明显,改变周期数N,对透射谱有较大的影响.  相似文献
6.
含原子运动非简并双光子JCM的光子统计性质   总被引:3,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
张少武  是度芳  陈建松 《光子学报》2003,32(8):1017-1021
利用全量子理论,研究了与双模压缩真空场作用的含原子运动非简并双光子JCM中双模光场的光子统计性质着重讨论了不同初始态下原子的运动速度、模场结构和初始光强对光场的光子统计性质的影响,由此得到一些新的结论.  相似文献
7.
相移全息CT技术测量双烛火焰温度场   总被引:2,自引:0,他引:2  
是度芳  钟志有 《光学学报》1996,16(6):68-771
提出了相移全息CT技术,实验中采用双参考光相移方法在再现阶段引入相移,重建了双烛火焰层面的温度场,结果表明,这一技术能够快速,高精度地获取各个投影响方向上的位相分布,重建出令人满意的结果。  相似文献
8.
非线性Bragg微腔的双稳态研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
研究了一维Bragg微腔中的光学增强效应,并对F-P腔中Kerr介质的双稳态特性进行了理论分析,并得到相应的数学表达式.研究表明,对聚焦型Kerr介质(χ(3)>0),要产生双稳态特性必须给入射光波预置一定的红移量,若是散焦型介质(χ(3)<0)则要预置一定的蓝移量.红移量(或蓝移量)的临界值与光子晶体的介质折射率、周期数、F-P腔长度、缺陷模的线宽(FWHM)等因素密切相关,它随介质折射率比、周期数、F-P腔长的增大而减小,随缺陷模的线形变窄而降低.要有效地降低非线性介质的双稳态开关阈值,除了尽可能选择较小的合适红移(或蓝移)量外,还要选择|χ(3)|较大的Kerr介质以增强腔内的非线性光学效应.  相似文献
9.
一维三元光子晶体缺陷模的特性研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
在考虑色散关系的基础上,利用传输矩阵法讨论了一维三元光子晶体缺陷模的特征.结果表明:缺陷层几何厚度增加时,缺陷模中心红移,透射率下降,品质因子变小.三介质的几何厚度各自独立递增时,缺陷模都向长波方向移动,缺陷模的品质因子先增后降.入射角增大时,缺陷模中心蓝移,透射率不变,半峰全宽度变窄,品质因子变小.若忽略缺陷介质的色散,当其折射率减小时,缺陷模蓝移,透射率变大,半峰全宽度保持不变,品质因子增大.  相似文献
10.
如何直接验证椭圆偏振光   总被引:1,自引:0,他引:1  
对物理实验教材中有关椭圆偏振光实验不能直接验证椭圆偏振光存在的原因进行了分析,提出了可直接验证椭圆偏振光的数据处理方法  相似文献
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