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本文提出一种新的测量光盘存储器光学头与光盘主轴平面度的方法,新方法是直接运用CCD测量光学头光斑的位置,并用专门设计的算法来找出光斑的中心位置,通过计算光斑中心位置的变化来分析光盘光学头与主轴的平面度.  相似文献   
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