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圆片冲击法测定硅片抗弯强度的研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
谢书银  石志仪 《力学学报》1995,27(3):380-384
提出了一种新的使用圆片试样及冲击加载的硅片抗弯强度测试方法,结合动能定理和薄板小挠度理论推导了抗弯强度的计算公式,测试结果准确,精度好。  相似文献   
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