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应用SR—CT技术研究陶瓷材料的孔隙结构及密度分布   总被引:3,自引:4,他引:3  
采用同步辐射X射线对烧结后的工程结构陶瓷材料进行投影成像,应用断层成像技术进行内部结构三维图像重建,获得了材料内部微结构和微缺陷尺寸大小、分布和界面形貌图像,由此计算出陶瓷材料的孔隙率及密度分布。  相似文献   
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