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用光学的方法(如常见的X射线荧光分析法、发射光谱分析法^[1]等)分析固体样品中特定元素及其含量是常见的分析方法。相对于化学方法,它们的分析过程简单、迅速。笔者在分析样品中遇到了一些比较特殊的分析要求,例如在金属外镀了另外的合金,要求分析在镀层中特定元素的浓度。一种直接的方法是用X射线荧光做定量分析,可以给出镀层的元素含量。但X荧光定量分析需要特定的标样,对使用者存在一定的不便之处,而且设备也较贵。本研究采用普通的原子光谱分析法结合简单的数学推导,解决了上述问题。本方法也可以应用于普通的光学原子发射光谱分析。 相似文献
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催化动力学吸光光度法同时测定环境样品中痕量Se(Ⅳ)和Te(Ⅳ) 总被引:7,自引:1,他引:6
利用Se(Ⅳ ) ,Te(Ⅳ )对盐酸肼与KBrO3的氧化还原反应的催化效应 ,反应产物与甲基橙褪色变化来度量反应速率。分别在 2 0和 2 5℃的条件下 ,在波长 5 2 5nm处测定反应速率。其速率与Se(Ⅳ )和Te(Ⅳ )浓度呈线性关系。用PLS方法拟合试验数据 ,获得了反应速率与Se(Ⅳ )、Te(Ⅳ )浓度间的关系式 ,从而求出结果。硒和碲的检出限分别为 1.5和 3 .0ng·ml- 1;线性范围分别为 0 40和 0 75ng·ml- 1;相对标准偏差分别为 3 .0 %和 3 .2 %。用此法检测国家标准样品结果基本一致。方法简便快速 ,准确可靠。 相似文献
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HG-ICP-MS同时测定生物样品中痕量As,Se,Hg 总被引:7,自引:0,他引:7
以HNO3为介质,采用自行研制的二级气液分离器代替易消耗的膜分离器,在优化的实验条件下,采用HG-ICP-MS实现了As,Se,Hg的同时测定,分别获得了0.022,0.016,0.009 ngmL的检出限。实验研究了二级气液分离器中的气液分离行为、样品酸度、NaBH4质量浓度和引入方式等因素对测定灵敏度和精密度的影响。实验的结果表明,HG-ICP-MS同时测定As,Se,Hg的主要干扰来自于Fe,cu等过渡金属离子,样品溶液中抗坏血酸-硫脲的加入可以掩蔽这些离子的干扰。利用所建立的方法测定了人发、灌木叶和大米粉标样中痕量的As,Se,Hg,结果与标准参考值相符。 相似文献
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α肟基丙酸(Propanoicacid,2hydroxyimino,HPAO)作为一种重要的生物配体,它与第一过渡系金属所形成配合物的结构方面曾有一些报道[1~5]。HPAO的Pd(Ⅱ)、Pt(Ⅱ)、Co(Ⅱ)、Rh(Ⅱ)等配合物近年来也引起了人们的注意[6,7]。后来,人们发现HPAO可作为低温下制备金属氧化物陶瓷的优良前驱体[8,9]。最近,AllenW.Apblett等人又对HPAO的碱金属盐的热分解性质进行了研究[10]。固相反应合成配合物,具有操作简单、产物易处理及收率高等优点,在… 相似文献
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