光谱及化学方法在微区薄层分析中的应用

近年来,对固体材料的微区薄层分析,尽管发展了以电子、离子、光子作为入射束的各种“探针”方法及其与之相应的丰富多样的分析仪器和技术,但是由于这些现代仪器价格昂贵,目前还不能普遍使用,且每种仪器在实际分析过程中的运用,都各自面临着某些方面的不足。与其它任何一种分析技术和仪器设备一样,这些现代化的技术和仪器设备也有它的局限性,如找到和制备合适的标准样品就是困难的问题之一,这点对于那些品种多,数量少,任务可变性大的研究部门就显得更为突出。所以发展近代化的各种“探针”、“谱仪”测试技术的同时,应用光谱及化学方法作微区、薄层分析,一直在受到人们的重视。早在五十年代,针对金属和合金的局部分析就有过专门的评论。近年来在国外应用发射光谱和化学     

原子吸收法测定锡铅基焊料中微量元素

锡铅焊料在电子工业、汽车工业、工件焊接以及金属制品的密封防漏和修补等方面有着广泛的用途。对其中锡、铅成份的配比、某些添加元素及杂质元素的含量要求,则因用途而异,所以准确测定这些元素的含量非常重要。Z.Wang等提出用氢溴酸-溴分解试样,光度法测定锡铅焊料中铁、铝、铋、锌、铜等元素,但手续比较繁冗、费时。有的则用光谱法进行分析。本文在J.Y.Hwang工作的基础上,提出以硝酸-氟硼酸-酒石酸的混合溶剂分解试样,用空气-乙炔火焰原子吸收法测定银、铋、镉、铜、铁、锑等杂质元素,解决了锡焊料难溶的困难。基体锡、铅有干扰;而其配比变化对多数杂质元素无显著影响,唯银随基体浓度配比改变有影响,但锡和铅总量不变时对各元素的测定均无影响。所以,本法在绘制工作曲线时,加入与待测试液相当量的锡铅合量为基底,即     

用高频火花和运动电极法光谱测定铝合金薄膜中镁

采用高频小火花光源,以薄膜样品作为下电极,并改装为运动方式,直接测定了X光天文成像望远镜前置滤光片上零点几微米厚的铝镁合金镀膜层中镁的含量。用ICP-AES法进行了对照分析,求得修正系数为0.7,修正后的结果最大相对标准偏差为16.8%,最小1.7%。