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微通道板增益疲劳机理研究 总被引:2,自引:0,他引:2
微通道板的增益疲劳是微通道板的主要问题之一,本文分析了微通道板的表面结构模型,同通道板活性表面上碱金属的逸出和碳的增加是导致微通道板的增益疲劳的主要原因,另外,探讨碱金属逸出的机理和碳污染的来源,介绍延长微通道板工作寿命的有效方法。 相似文献
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介绍微通道板电子透射膜在三代微光像增强器中的作用,推导电子透射膜死电压的理论表达式,测量电子透射膜的电子透过特性,并进行初步分析和讨论。 相似文献
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介绍微通道板(MCP)防离子反馈膜在Ⅲ代微光像增强器中的作用,指出微通道板防离子反馈膜的制备工艺对微通道板电性能的影响,提出清洗带膜微通道板的工艺方案,测量清洗前后带膜微通板的电学特性。 相似文献
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利用溶胶-凝胶技术在玻璃衬底上制备了ZnO:Al薄膜,表征了薄膜的结构、光透过和光致发光特性,探讨了热处理温度对薄膜晶体结构和光学性质的影响.结果表明,在热分解温度400 ℃和退火温度600 ℃时,ZnO:Al薄膜的C轴择优取向明显,透过率较高.在热处理温度400 ℃情况下,激发波长340 nm的光致发光谱中有三个发光中心,紫外发光强度随退火温度的升高先升高后下降,500 ℃时发光强度最强.其它两个发光峰的强度随退火温度的升高而降低甚至消失.激发波长不同,ZnO:Al薄膜的发光中心和强度均发生变化. 相似文献
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微通道板电子透射膜工艺的AES研究 总被引:3,自引:2,他引:1
用冷基底溅射方法和静电贴膜方法分别在微通道板表面制备了电子透射膜,采用俄歇电子能谱(AES)研究了两种工艺制备的微通道板电子透射膜的薄膜成分,微通道板电子透射膜工艺失败微通道板通道表面的成分和通道内壁的成分随深度的变化. 结果表明,冷基底溅射方法制膜工艺的失败对MCP造成了严重的碳污染,污染的MCP不可回收;静电贴膜方法制膜工艺的失败对MCP通道表面没有明显影响,MCP可回收利用. 相似文献
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A new phase of RhB_4 is predicted based on first-principles calculations. The new phase belongs to the orthorhombic Pnnm space group, named as o-RhB_4, and analysis of the calculated enthalpy shows that o-RhB_4 belongs to the orthorhombic Pnnm space group. The calculated phonon band structure shows that the orthorhombic Pnnm o-RhB_4 structure is stable at ambient pressure. We expect that the phase transition can be further confirmed by experiments. 相似文献
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Electronic structures and optical properties of Zn-doped β-Ga2O3 with different doping sites 总被引:2,自引:0,他引:2 下载免费PDF全文
<正>The electronic structures and optical properties of intrinsicβ-Ga2O3 and Zn-dopedβ-Ga2O3 are investigated by first-principles calculations.The analysis about the thermal stability shows that Zn-dopedβ-Ga2O3 remains stable. The Zn doping does not change the basic electronic structure ofβ-Ga2O3,but only generates an empty energy level above the maximum of the valence band,which is shallow enough to make the Zn-dopedβ-Ga2O3 a typical p-type semiconductor.Because of Zn doping,absorption and reflectivity are enhanced in the near infrared region.The higher absorption and reflectivity of ZnCa(2) than those of ZnCa(1)are due to more empty energy states of ZnCa(2)than those of ZnCa(1) near Ef in the near infrared region. 相似文献
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ITO透明导电膜玻璃的翘曲度是评价大尺寸薄基片ITO玻璃的重要指标之一。利用磁控射频溅射技术制备了ITO薄膜。研究了基片加热前、后的翘曲度和ITO膜层应力对ITO玻璃翘曲度的影响以及ITO成膜温度分布对ITO玻璃翘曲度的影响。结果表明,薄基片ITO玻璃的翘曲度主要是在镀膜时ITO膜层压应力大引起的,选择合适的成膜温度分布可明显减小ITO玻璃的翘曲度。 相似文献
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用于彩色滤光片的低阻低应力ITO透明导电膜 总被引:2,自引:0,他引:2
探讨了用于彩色滤光片的低电阻和低压应力的ITO透明导电膜工艺。用磁控溅射方法在不同温度的衬底上制备了ITO薄膜。研究了膜形衬底温度与膜结晶化程度的关系,以及膜形衬底温度对膜电阻和压应力的影响。对不同衬底温度下形成的ITO薄膜进行了退火处理,并对退火后的ITO薄膜的电阻和压应力特性进行了分析。结果表明,采用室温沉积非晶态ITO膜,在真空退火下可获得低电阻、低压应力的多晶相ITO膜。 相似文献