改善半导体激光锁模质量的新方法——光谱补偿法

本文提出一种减弱二极管芯片子腔效应对半导体激光锁模影响的新方法——光谱补偿法。对其机理、实现补偿的条件及补偿效果进行了初步分析。     

全固态光电子取样系统

本文介绍了一种全固态高速光电子取样系统。整个系统全部由固态器件组成。该系统以超短脉冲激光二极管作光源,以混合集成光电回路作取样门。从理论上分析了这种系统的灵敏度和分辨率。给出了初步的实验结果。