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朱德光  吴鼎芬 《物理学报》1987,36(6):752-759
本文中提出了一种测量金属-半导体欧姆接触比接触电阻的新方法-圆环结构测试法。导出了适用于半无限大和有一定厚度的半导体材料的比接触电阻表达式,用此方法进行实验测量和计算,所得结果与文献结果符合得很好。 关键词：  相似文献   
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